Теория и технология литейного производства: Учебное пособие, страница 235

выходящих на поверхность отлив­ки, применяют лупы, бинокуляр­ные микроскопы, эндоскопы с раз­личной кратностью увеличения.

Радиационная дефектоскопия. Любой из известных методов кон­троля с помощью проникающего излучения, т.е. методов радиацион­ной дефектоскопии, предполагает обязательное использование как минимум трех основных элементов: источника ионизирующего излуче­ния, контролируемого объекта (от­ливки), детектора, регистрирующе­го                                   дефектоскопическую информацию. Методы радиацион­ной дефектоскопии основаны на том, что при прохождении ионизи­рующего излучения через контро­лируемый объект происходит ос-

1 II II П П п г

Рис.10.5. Просвечивание отливки с перемещением источника излучения: 1 — отливка; 2 — фотопластина

Метод регистрации изображения на пленке позволяет определить глубину залегания дефекта. Для этого производят

повторное просвечивание отливки со смещением источника излу­чения на величину Ъ (рис. 10.5). Глубина залегания дефекта х оп­ределяется по формуле:

х =                                                   (10.1)

Ь + а

где с — расстояние от изделия до фотопленки; F — расстояние от источника излучения до фотопленки; а — величина смещения изображения дефекта на пленке.

При просвечивании деталей, имеющих большие перепады сечений, на рентгенограмме получаются участки с различным почернением, что затрудняет выявление дефекта. В этих случаях для выравнивания почернения рентгенограммы применяют ком­пенсаторы — жидкие, пластичные и твердые.

При использовании жидких компенсаторов отливку помеща­ют в сосуд 3 (рис.10.6) из алюми­ния, органического стекла или пластмассы, заливают компенси­рующей жидкостью 2 до наи­высшей точки отливки 1.

Для отливок из алюминиевых сплавов в качестве компенсатора хорошо зарекомендовал себя рас­твор 0,035 кг хлористого бария в 1 -Ю-4 м3 воды, а для сплавов железа — раствор из 0,15 кг йо­дистого бария в 1Ю~4 м3 воды.

Твердые компенсаторы изготавливают из того же металла, что и отливку, но часто неплотное его прилегание к контроли­руемому объекту затрудняет расшифровку рентгенограмм. По­этому наиболее целесообразно пользоваться пластичными компен­саторами, состоящими из смеси пластилина или воска с мелкодисперсным порошком свинцового сурика или сернокислого бария.

Рис.10.6. Схема использования жидкого компенсатора: 1 — отливка; 2 — компенсационная жидкость; 3 — сосуд; 4 — фотопленка

Недостатком метода регистрации изображения на фото­пленке является низкая производительность, поэтому наиболее целесообразно использовать ксерографию, которая обладает рядом преимуществ. Это быстрота получения ксерограммы, что важно при проведении экспресс-анализа, и многократность использова­ния ксерографической пластины (до 500-2000 экспозиций). Ксе- рографическая пластина — это фотопроводниковая (обычно селе­новая) заряженная пластинка, чувствительная к излучению. Под действием рентгеновского излучения селен становится проводни­ком, в результате этого происходит утечка заряда с поверхности
пластинки. Чем больше интенсивность воздействия на пластинку излучения, тем быстрее она разряжается. При просвечивании от­ливки, помещенной над ксерографической пластиной, на ней об­разуется скрытое электростатическое изображение внутреннего строения объекта. Изображение проявляется при нанесении на пластину специального мелкого порошка, частицы которого при­тягиваются к пластине оставшимся на ней электрическим заря­дом.