Физические основы микроэлектроники, конспект лекций, страница 23

Увеличение  результирующей скорости движения электронов под действием внешнего поля эквивалентно повышению температуры электронного газа в полупроводнике. Поэтому такой эффект называют разогревом электронного газа, а электроны, имеющие среднюю кинетическую энергию выше средней кинетической энергии решетки атомов, называют горячими электронами. Под действием сильных полей может происходить не только изменение подвижности, но и концентрации носителей заряда. Существуют три основные механизма этого эффекта : термоэлектронная ионизация, ударная ионизация  (эффект Зинера).

При термоэлектронной ионизации электрическое поле E, созданное  в   полупроводнике,    действует   на    электроны  с силой 

F= -qE и увеличивает вероятность перехода их в зону проводимости. Это приводит к увеличению концентрации свободных электронов и росту электропроводимости полупроводника   δ.

При ударной ионизации электроны зоны проводимости приобретают энергию под действием внешнего поля, достаточную для ионизации нейтральных атомов и при этом сами остаются в зоне проводимости. Концентрация при этом будет возрастать, пока процесс не будет уравновешен рекомбинацией.

При электростатической ионизации электроны переходят из валентной зоны в зону проводимости, путем тунельного просачивания  через запрещенную зону. Вероятность просачивания резко увеличивается с ростом напряженности внешнего электрического поля.

3.5. НЕРАВНОВЕСНЫЕ НОСИТЕЛИ ЗАРЯДА В ПОЛУПРОВОДНИКАХ.

Кроме теплового возбуждения возможны и другие способы генерации свободных носителей в полупроводниках : под действием света, ионизирующих частиц, инжекции через контакт и другие.


Действие таких факторов приводит к появлению избыточных, по сравнению с равновесными, свободных носителей. Концентрация избыточных, или неравновесных носителей может быть выражена через полную концентрацию  и равновесную :

где     n0, p0 – концентрация равновесных носителей.

При измененной интенсивности внешнего фактора концентрация избыточных носителей растет в начале   быстро, а затем,  вследствие увеличивающейся скорости рекомбинации , ее рост замедляется и в конце концов устанавливается стационарное состояние, при котором скорость генерации G равна скорости рекомбинации R носителей.

Вводят среднее время жизни носителей, которое для электронов обозначают   τn, для дырок τp .

Если, например, под действием света  в полупроводнике возбуждены избыточные носители с концентрацией  ∆n=∆p, то после выключения света эти носители будут рекомбинировать и их концентрация начнет постепенно уменьшаться. Так как каждый избыточный носитель, например, электрон, живет, в среднем τn , то в одну секунду их прорекомбинирует ∆n/ τ, где ∆n  – концентрация избыточных носителей в данный момент времени. Поэтому скорость рекомбинации равна 


 


(3.29)

(3.30)

Результат интегрирования этих уравнений :