(16.14)
Отсюда
             (16.15)
2. В собственном полупроводнике концентрация электронов равна концентрации дырок ni= pi.

Концентрация электронов
                                              (16.16)
где Nc=2h–3(2pm*kT)3/2; Nc – эффективная плотность состояний в зоне проводимости.
Концентрация дырок
                                             (16.17)
где
Nu=2h–3(2pmp*kT)3/2; Nu – эффективная плотность состояний в валентной зоне. Из равенства ni= pi следует выражение для энергии Ферми:
                                     (16.18)
При mp*>mn* уровень Ферми лежит выше середины запрещенной зоны.
Из (16.16) и (16.17) концентрация носителей заряда в собственном полупроводнике
                                       (16.19)
3. В примесных полупроводниках в области насыщения, когда все примеси ионизированы, концентрация носителей заряда равна концентрации примеси
Для электронов
                                                (16.20)
Энергия Ферми
                                                      (16.21)
Для дырок
                                                (16.22)
Энергия Ферми
                                                    (16.23)
В области низких температур (в области вымораживания) концентрация электронов определяется заменами в (16.19)
Nu ® Nd, ni ® n, DE0 ® Ed
                                          (16.24)
где Ed – энергия ионизации донорных атомов.
Концентрация дырок определяется аналогично:
где Ea – энергия ионизации акцепторов:
                                          (16.25)
Энергия Ферми определяется из выражений:
                                                    (16.26)
и
                                          (16.27)
Произведение концентраций электронов и дырок в примесном полупроводнике при отсутствии вырождения
                                     (16.28)
Соотношение np = ni2 носит название закона действующих масс..
График зависимости концентрации от температуры показан на рис.16.9, где 1 – область собственной проводимости; 2 – область насыщения; 3 – область вымораживания.
С увеличением концентрации донорной примеси N, волновые функции примесных состояний электрона перекрываются, вместо локального донорного уровня образуется примесная зона и энергия ионизации доноров уменьшается.

Рис.16.9
Для водородоподобных атомов примеси
                          (16.29)
где e – статическая диэлектрическая проницаемость полупроводника.
§ 16.4. Подвижность носителей заряда в полупроводниках
1. Подвижность электронов в невырожденном полупроводнике с параболичной зоной проводимости
mn = un/E = etn/mn*, (16.30)
гдеun и mn* – дрейфовая скорость и эффективная масса электрона; E – напряженность внешнего электрического поля; tn – среднее время пробега электрона (время релаксации).
Время релаксации равно отношению средней длины свободного пробега электрона к его скорости теплового движения tn =l/uT.
В случае рассеяния носителей заряда на колебаниях решетки (на акустических фононах) l=A/T. Скорость теплового движения
.
Подвижность электронов
                                (16.31)
Аналогичным образом зависит от температуры подвижность дырок
                                               (16.32)
Зависимости (16.31) и (16.32) удовлетворительно согласуются с экспериментом для области собственной проводимости и области насыщения слаболегированного полупроводника.
В области вымораживания превалирует рассеяние носителей заряда на ионах примеси и подвижность возрастает с повышением температуры
mn=CnT3/2; mp=CpT3/2. (16.33)
2. В вырожденных полупроводниках и металлах энергия Ферми почти не зависит от температуры и время релаксации обратно пропорционально температуре, так как электрон вместо тепловой скорости характеризуется фермиевской скоростью
.                                        (16.34)
Подвижность электронов в этом случае
Уважаемый посетитель!
Чтобы распечатать файл, скачайте его (в формате Word).
Ссылка на скачивание - внизу страницы.