Другие предметы \ Основы теории надежности

Диагностирование логических схем на функциональных элементах, страница 4

Т а б л и ц а 4.2

№	Входной набор	F	Функции неисправности

			При внесенной неисправности
	a b
0	0 0	1	1	1	0	1
1	0 1	0	0	1	0	1
2	1 0	0	1	0	0	1
3	1 1	0	0	0	0	1

Функции неисправностей определяются моделированием работы элемента с внесенным дефектом. Например, при обрыве резистора элемент ИЛИ-НЕ превращается в элемент НЕ со входом и поэтому и т.д. Во многих ЛЭ имеются детали, повреждение которых не изменяет логическую функцию элемента. Их используют в цепях стабилизации параметров или обеспечения помехоустойчивости элементов. В элементе ИЛИ-НЕ к таким деталям относится резистор в цепи смещения. Обрыв этого резистора не влияет на правильную работу элемента или при определенных условиях приводит к короткому замыканию перехода Э–К транзистора. Повреждение таких деталей не обнаруживается логическими тестами, а требуется проведение специальных испытаний элементов. Поэтому соответствующие неисправности исключаются из ТФН. Кроме того, в любом ЛЭ большое число неисправностей являются эквивалентными. В ТФН они имеют одинаково заполненные столбцы. В табл. 4.1 образуем два класса эквивалентных неисправностей и , в результате чего получаем сжатую ТФН элемента (табл. 4.2), в которой все столбцы попарно различимы. В таблице в качестве проверок выступают входные двоичные наборы, которым в крайнем левом столбце сопоставлены десятичные эквиваленты. В табл. 4.3 приведена построенная по табл. 4.2 таблица покрытий, по которой получаем, что проверяющий тест элемента

. (4.1)

Из выражения (4.1) следует, что двухвходовой элемент ИЛИ-НЕ проверяется тремя входными наборами. Первый набор обнаруживает все дефекты, приводящие к появлению на выходе элемента сигнала 0 вместо сигнала 1 (отказ типа 1 0). Второй набор обнаруживает дефект второго входа , а третий набор – дефект первого входа . Все дефекты, из-за которых на выходе элемента появляется сигнал 1 вместо сигнала 0 (отказ типа 0 1) обнаруживаются на втором или третьем наборе.

Т а б л и ц а 4.3

N
0			х
1		х		х
2	х			х
3				х

Данная структура теста (а также и структура сокращенной ТФН) характерна для любого из элементов простого базиса, к которым относятся элементы И, ИЛИ, НЕ, ИЛИ-НЕ, И-НЕ. Для них длина теста (где равно числу входов элемента), причем наборов используется для проверки каждого из входов, а один набор – для обнаружения отказов, при которых на выходе элемента устанавливается постоянный сигнал 0 или 1. Ниже приведены тесты для элементов простого базиса имеющих два входа, на которые подаются переменные и .