Диагностирование логических схем на функциональных элементах, страница 21

          Неисправности ЭМ моделируются определенными неисправностями эквивалентной логической схемы. Обрыв между клеммами приводит к «разбиению» элемента ИЛИ на два элемента. Например, обрыв между клеммами 5 и 6 (обрыв ) превращает исходную схему (рис. 4.44) в неисправную схему, показанную на рис. 4.45.

Рис.4.45.

 Она реализует функцию неисправности

.

          Сообщение (КЗ) между клеммами приводит к «объединению» двух элементов ИЛИ в один элемент. Например, сообщение между клеммами 1 и 4 (сообщение ) моделируется схемой (рис. 4.46), реализующей функцию неисправности

.

Рис.4.46.

          Неисправность типа «неправильный монтаж» сводится к комбинации «разбиений» и «объединений» элементов ИЛИ. На рис. 4.47 приведен пример неправильного монтажа, который может быть представлен как совокупность неисправностей  и .

Рис.4.47.

 Соответственно в моделирующей схеме имеет место «разбиение» элемента, реализующего дизъюнкцию (123), и «объединение» элемента, реализующего дизъюнкцию (8910) со входом 11. Схема реализует функцию неисправности

.

Неисправность типа «изоляция клеммы» моделируется «разбиением» соответствующего элемента ИЛИ (см. рис. 4.48).

Рис.4.48.

          Так как все неисправности ЭМ моделируются логическими неисправностями комбинационной схемы, то при построении проверяющего теста ЭМ может быть использован метод ТФН. Однако, особенности неисправностей ЭМ позволяют получить более простые алгоритмы построения тестов.

          Задачу проверки ЭМ сформулируем как задачу проверки моделирующей логической схемы на отсутствие неисправностей типа «разбиение» и «объединение» элементов ИЛИ.

          Определим два типа тестовых наборов.

          Набор типа А образуется по правилу: в каждой монтажной группе одна из переменных равна 1, а все остальные переменные равны 0. Наборы типа А обнаруживают неисправности типа «разбиение» элементов ИЛИ. Например, неисправность  (см. рис. 4.45) проверяется набором

          В исправной схеме на данном наборе на выходе формируется сигнал 1, а в неисправной схеме (рис. 4.45) – сигнал 0, т.к. на выходе элемента ИЛИ, реализующего дизъюнкцию (67) устанавливается сигнал 0.

          Набор типа В образуется по правилу: в одной монтажной группе все переменные равны 0, а все остальные переменные всех групп равны 1.

          Наборы типа В обнаруживают неисправности типа «объединение» элементов ИЛИ. Например, неисправность  (см. рис. 4.46) проверяется набором

В исправной схеме на данном наборе на выходе формируется сигнал 0, а в неисправной схеме (рис. 4.46) – сигнал 1, т.к. на выходе объединенного элемента ИЛИ, реализующего дизъюнкцию (1234567) устанавливается сигнал 1.

          Полной проверяющий тест ЭМ составляет множество наборов, включающее в себя:

          1) все наборы типа В (их число равно числу монтажных групп т);

          2) подмножество наборов типа А, в котором для каждой переменной каждой группы имеется хотя бы один набор с единичным значением этой переменной (число таких наборов равно максимальному числу клемм в одной группе ).

          Длина теста

.                                      (4.38)

          Для ЭМ, приведенного на рис. 4.43, проверяющий тест (см. табл. 4.12) содержит по четыре набора типов А и В. Из сравнения формул (4.36)–(4.38) следует, что во всех случаях  и . Длина теста  может быть уменьшена при введении на структуру монтажа простых ограничений. Если в монтаже отсутствуют соединения типа

Т а б л и ц а   4.12