Диагностирование логических схем на функциональных элементах, страница 23

в котором множество клемм разбивается на две группы  и . В группу  () включаются клеммы, у которых в соответствующих разрядах суммы записано значение 0 (1). Активная клемма (клемма 6), подключенная ко входу элемента И, находится в множестве . В группе  находятся все клеммы, у которых в результате обрыва нарушена связь с активной клеммой. В данном случае в  входят клеммы 7, 8, 9. Так как только клемма 8 имеет непосредственное соединение (через клемму 3) с активной клеммой, то делается вывод о нарушении соединения между клеммами 3 и 8.

Необходимое число наборов типа С

,

где  – число изолированных клемм.

Локализация сообщений возможна только с точностью до двух монтажных групп и осуществляется на основе анализа результатов тестирования схемы на наборах типа В.  Если  в   схеме на рис. 4.43 имеет место сообщение , то на наборах 5 и 6 (см. табл. 4.12) на выходе схемы вместо сигнала 0 формируется сигнал 1, а на наборах 7 и 8 – сохраняется  правильный сигнал 0. Наборы 5 и 6 проверяют группы 1 и 2, поэтому между ними существует сообщение.

          Длина одиночного диагностического теста

.                             (4.40)

В табл. 4.13 приведен диагностический тест для монтажной схемы рис. 4.43.  Кратные  дефекты локализуются последовательно с выделением  подозреваемых  одиночных  неисправностей  и  их  устране-нием.

Т а б л и ц а   4.13

4.6. Обнаружение неисправностей типа «временная задержка»

          Обнаружение неисправностей типа «временная задержка» (ВЗ) распространения логического сигнала является важной областью в тестировании микроэлектронных схем. С увеличением быстродействия схем и тактовой частоты их работы становится более вероятным влияние временных отклонений на правильную работу аппаратуры. Особенностью ВЗ по сравнению с другими видами отказов является то, что они не нарушают логическую структуру схемы и в то же время приводят к ошибочным результатам вычислений.