. (2.37)
Таким образом, схема
ключа рис.2.14 при учёте действия коллекторно-базовой ёмкости по–прежнему
описывается дифференциальным уравнением первого порядка с передаточной
функцией (2.37) и экспоненциальной переходной характеристикой, а действие
отрицательной обратной связи проявляется в увеличении постоянной времени от
величины до
.
Соответственно ухудшаются показатели быстродействия при переходе ключа из
отсечки в насыщение или наоборот. Влияние дополнительного слагаемого в
может быть значительным даже при малой
величине ёмкости
вследствие множителя
. Уменьшения действия обратной связи можно
достичь уменьшением сопротивления резистора
(уменьшением
коэффициента усиления транзистора в активном режиме).
В то же время
возможно и используется целенаправленное увеличение ёмкости между выходом и
входом транзисторного усилителя. Тогда передаточная функция (2.37) приближённо
равна , т.е. схема рис.2.14 выполняет функцию
интегратора.
2.2.5. Переходный процесс, определяемый действием монтажной ёмкости
Дополнительным фактором, влияющим на вид переходного процесса транзисторного ключа, является присутствие в схеме монтажной («паразитной») ёмкости, неизбежное при любом уровне технологии. Для определения влияния такой ёмкости рассмотрим схему ключа на рис.2.16а, где переходная характеристика транзистора определяется временной зависимостью коллекторного тока
. (2.38)
Рис. 2.16
На эквивалентной схеме рис.2.16б
показано, что этот ток протекает не только через резистор , но и через ёмкость
, что изменяет вид зависимости
. Определим суммарную переходную
характеристику
ключа рис.2.16, как временную
зависимость тока через резистор
при ступенчатом
единичном воздействии на входе схемы. Решая задачу в частотной области, составим
эквивалентную схему рис.2.16в для изображений по Лапласу переходной
характеристики
и токов через резистор и
ёмкость, создаваемых коллекторным током транзистора. Заметим, что схема
рис.2.16в представляет составляющую суперпозиции в схеме рис.2.16б при
, т.е. составлена для переменной
составляющей тока. Определим изображение переходной характеристики (2.38)
транзистора по коллекторному току
, тогда ток
согласно рис.2.16в равен:
, (2.39)
где . Для
нормированной переходной характеристики
по
теореме обращения (1.17) находим вычеты:
,
,
и
определяем переходную характеристику схемы рис.2.16 с учётом действия
монтажной ёмкости:
. (2.40)
Предположим
использование достаточно хорошей технологии, чтобы монтажные свойства мало
ухудшали свойства транзисторов, например, .
Рис. 2.17
Переходная
характеристика в этих условиях показана на рис.2.17. Согласно (2.40) она
определяется суммой нарастающей () и спадающей (
) экспонент, в результате чего приобретает
временное запаздывание (сплошная линия на рис.2.17) относительно переходной
характеристики схемы без монтажной ёмкости (кружки на рис.2.17), близкое к
величине
. В то же время скорость нарастания,
определяемая постоянной времени
, на большей части
экспоненты от действия монтажной ёмкости практически не зависит. Этот вывод в
отношении действия относительно большой и малой инерционностей на характер
переходного процесса имеет достаточно общий характер и будет обсуждаться
применительно к цепочке последовательно соединённых ключей.
Поскольку схема
ключа работает в нелинейном режиме, то нарастание переходной характеристики
прекращается (как на рис.2.10б) при достижении нормированной величины тока
насыщения (точка
на
рис.2.17). Запаздывание момента перехода транзистора в насыщение относительно
схемы без монтажной ёмкости примерно равно постоянной времени монтажной ёмкости:
.
2.2.6. Переходный процесс в цепочке ключевых каскадов
Уважаемый посетитель!
Чтобы распечатать файл, скачайте его (в формате Word).
Ссылка на скачивание - внизу страницы.