. (2.37)
Таким образом, схема ключа рис.2.14 при учёте действия коллекторно-базовой ёмкости по–прежнему описывается дифференциальным уравнением первого порядка с передаточной функцией (2.37) и экспоненциальной переходной характеристикой, а действие отрицательной обратной связи проявляется в увеличении постоянной времени от величины до . Соответственно ухудшаются показатели быстродействия при переходе ключа из отсечки в насыщение или наоборот. Влияние дополнительного слагаемого в может быть значительным даже при малой величине ёмкости вследствие множителя . Уменьшения действия обратной связи можно достичь уменьшением сопротивления резистора (уменьшением коэффициента усиления транзистора в активном режиме).
В то же время возможно и используется целенаправленное увеличение ёмкости между выходом и входом транзисторного усилителя. Тогда передаточная функция (2.37) приближённо равна , т.е. схема рис.2.14 выполняет функцию интегратора.
2.2.5. Переходный процесс, определяемый действием монтажной ёмкости
Дополнительным фактором, влияющим на вид переходного процесса транзисторного ключа, является присутствие в схеме монтажной («паразитной») ёмкости, неизбежное при любом уровне технологии. Для определения влияния такой ёмкости рассмотрим схему ключа на рис.2.16а, где переходная характеристика транзистора определяется временной зависимостью коллекторного тока
. (2.38)
Рис. 2.16
На эквивалентной схеме рис.2.16б показано, что этот ток протекает не только через резистор , но и через ёмкость , что изменяет вид зависимости . Определим суммарную переходную характеристику ключа рис.2.16, как временную зависимость тока через резистор при ступенчатом единичном воздействии на входе схемы. Решая задачу в частотной области, составим эквивалентную схему рис.2.16в для изображений по Лапласу переходной характеристики и токов через резистор и ёмкость, создаваемых коллекторным током транзистора. Заметим, что схема рис.2.16в представляет составляющую суперпозиции в схеме рис.2.16б при , т.е. составлена для переменной составляющей тока. Определим изображение переходной характеристики (2.38) транзистора по коллекторному току , тогда ток согласно рис.2.16в равен:
, (2.39)
где . Для нормированной переходной характеристики по теореме обращения (1.17) находим вычеты: , , и определяем переходную характеристику схемы рис.2.16 с учётом действия монтажной ёмкости:
. (2.40)
Предположим использование достаточно хорошей технологии, чтобы монтажные свойства мало ухудшали свойства транзисторов, например, .
Рис. 2.17
Переходная характеристика в этих условиях показана на рис.2.17. Согласно (2.40) она определяется суммой нарастающей () и спадающей () экспонент, в результате чего приобретает временное запаздывание (сплошная линия на рис.2.17) относительно переходной характеристики схемы без монтажной ёмкости (кружки на рис.2.17), близкое к величине . В то же время скорость нарастания, определяемая постоянной времени , на большей части экспоненты от действия монтажной ёмкости практически не зависит. Этот вывод в отношении действия относительно большой и малой инерционностей на характер переходного процесса имеет достаточно общий характер и будет обсуждаться применительно к цепочке последовательно соединённых ключей.
Поскольку схема ключа работает в нелинейном режиме, то нарастание переходной характеристики прекращается (как на рис.2.10б) при достижении нормированной величины тока насыщения (точка на рис.2.17). Запаздывание момента перехода транзистора в насыщение относительно схемы без монтажной ёмкости примерно равно постоянной времени монтажной ёмкости: .
2.2.6. Переходный процесс в цепочке ключевых каскадов
Уважаемый посетитель!
Чтобы распечатать файл, скачайте его (в формате Word).
Ссылка на скачивание - внизу страницы.