2. Если возникает необходимость в усилении контрастности, что желательно при получении микрофотографий, то этого следует добиваться методом фотографии, а не перетравливанием структуры.
3. Если образец протравлен недостаточно, то его необходимо переполировать для удаления протравленной поверхности (обычно это достигается полированием на последней ступени) и перетравить; дополнительное вторичное травление без полировки часто дает плохие результаты.
4. Степень травления структуры, достаточная для исследования шлифа при малых увеличениях, обычно бывает чрезмерно сильной при переходе к большим увеличениям.
5. После травления нельзя касаться поверхности шлифа. Необходимо сразу же исследовать под микроскопом или сфотографировать полученную микроструктуру, прежде чем шлиф сможет загрязниться или окислиться.
Специальные методы травления.
Выявление дислокаций (получение ямок травления). Некоторые травители вызывают отчетливую точечную коррозию металлических кристаллов. Грани получающихся ямок травления ориентированы одинаковым образом на поверхности каждого кристаллита и образуют систему крошечных зеркал, отражающих направленный пучок света в одном и том же направлении. Используя этот эффект, можно определить ориентацию кристалла с помощью оптического гониометра. Установлена также однозначная связь между ямкой травления и выходом дислокационной линии на поверхность кристалла. Для поверхностей кристалла, ориентированных параллельно плоскостям с низкими индексами, как, например, плоскости {100}, {110} и {111}, в случае применения соответствующих травителей подсчет количества ямок травления дает плотность дислокаций, сопоставимую с теоретической. Следует указать, что другие дефекты кристаллов, как включения, ступеньки скола и ямки испарения, также чувствительны к действию травителей. Однако ямки травления, образующиеся у этих дефектов, имеют плоское дно, в то время как ямки травления, возникающие на дислокациях, имеют остроконечное дно. Действительно, при удалении дислокации от местоположения ямки травления последующее травление вызывает изменение формы ямки травления от пирамидальной к ямке с плоским дном и новое местоположение дислокации отмечается образованием пирамидальной ямки. Тем самым такой метод травления позволяет следить за движением дислокаций.
Травление для получения штриховой структуры. В 1948 г. Кострон впервые обнаружил явление, известное теперь как травление на «штриховую» структуру. При определенных условиях химическое или электролитическое травление металлов и сплавов приводит к образованию на поверхности образца пленки, состоящей из продуктов реакции. После высыхания пленка сжимается и растрескивается, в результате чего на поверхности шлифа образуется сетка линий, которые, как было показано, связаны с кристаллографической ориентацией зерен.
Показано, что при травлении на штриховую структуру на поверхности зерен, параллельных плоскости {110} или образующих небольшой угол с ней, образуется ряд параллельных линий. При значительном отклонении поверхности зерна от плоскости {110} образуется второй ряд параллельных линий. По мере увеличения угла отклонения от плоскости {110} угол пересечения двух рядов параллельных линий увеличивается, а количество линий, приходящихся на одно зерно, уменьшается. В конечном итоге, когда плоскость зерна приобретает ориентацию {100}, количество линий на одно зерно достигает минимума и оба ряда линий пересекаются под прямым углом.
Первоначальная методика травления на штриховую структуру предполагала одноразовое травление, как было описано выше. Для образцов, на которых не удается получить хорошую контрастность между трещинами и пленкой продуктов реакции, можно использовать другую технику травления. После того как пленка продуктов реакции образуется и высохнет, образец повторно травится в другом растворе, который реагирует с незачищенным металлом под трещинами и в конечном итоге вспучивает пленку. В результате образуется серия канавок травления, контрастирующая с основной блестящей поверхностью.
Уважаемый посетитель!
Чтобы распечатать файл, скачайте его (в формате Word).
Ссылка на скачивание - внизу страницы.