Сравнительный анализ методов рентген-дифракционного контроля монокристаллических изделий на различных видах дифрактометров

МИНОБРНАУКИ РОССИИ

Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования

“Санкт-Петербургский государственный электротехнический университет “ЛЭТИ”

им. В.И.Ульянова (Ленина)” (СПбГЭТУ)

Направление        210100 «Электроника и микроэлектроника»

Кафедра                   электронных приборов и устройств

К защите допустить:

Руководитель направления                                     д.т.н., проф. Быстров Ю.А.

ВЫПУСКНАЯ

КВАЛИФИКАЦИОННАЯ РАБОТА

БАКАЛАВРА

Тема: Сравнительный анализ методов рентген-дифракционного контроля монокристаллических изделий на различных видах дифрактометров

Студент				/      Бойко И. А.       /
Руководитель				/    Потехина Ю. Е. /
Зав. кафедрой				/   Быстров Ю. А.   /

Санкт-Петербург

2010 г.

МИНОБРНАУКИ РОССИИ

Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования

“Санкт-Петербургский государственный электротехнический университет “ЛЭТИ”

им. В.И.Ульянова (Ленина)” (СПбГЭТУ)

				УТВЕРЖДАЮ
Факультет	Электроники			Руководитель
				направления
Кафедра	ЭПУ			/   Быстров Ю. А.     /
			«_____» ______________ 2010 г.

ЗАДАНИЕ

на выпускную квалификационную работу бакалавра

Студент

Бойко Ирина  Александровна

Группа №

6206