где n – порядок дифракции (целое число);
d - межплоскостное расстояние;
Q - угол падения луча или угол дифракции (угол Вульфа-Брэгга);
l - длина волны рентгеновского излучения.
Эта формула называется формулой (условием) Вульфа-Брэгга [6].
Для регистрации дифракционной картины взаимодействия рентгеновских лучей с кристаллом, необходимо выполнение основного закона дифракции (условия Вульфа-Брэгга) (рис. 1.9.). Перемещение исследуемого образца в потоке излучения дает возможность по максимумам дифракционной картины судить о свойствах кристаллической решетки этого объекта.
Рис. 1.9. К уравнению Вульфа-Брэгга
Для наблюдения дифракции рентгеновских лучей в исследуемом образце применяются следующие методы: метод Лауэ, метод вращения кристалла, метод рентгеногониометра, метод порошков, метод широко расходящегося пучка [6].
1.2.1. Метод Лауэ
Метод Лауэ – простейший метод получения дифрактограмм от монокристаллов [1]. Дифракционная картина возникает при облучении неподвижного монокристалла узким пучком тормозного рентгеновского излучения (рис. 1.10., а). Образование дифракционных максимумов происходит вследствие того, что в непрерывном спектре тормозного излучения всегда найдутся длины волн, удовлетворяющие уравнению Вульфа-Брэгга для некоторых атомных плоскостей кристалла, расположенных под определенными углами к падающему пучку лучей. Метод Лауэ позволяет установить принадлежность исследуемого кристалла к одной из групп симметрии и определять направление кристаллографических осей с точностью до нескольких угловых минут. По характеру пятен на лауэграммах (рис. 1.10, б) можно выявить внутренние напряжения и некоторые другие дефекты кристаллической структуры.
Для определения симметрии необходимо несколько дифрактограмм одного и того же кристалла ориентированного в различных направлениях. Знание направлений осей симметрии позволяет выбрать координатные оси у данного кристалла.
Уважаемый посетитель!
Чтобы распечатать файл, скачайте его (в формате Word).
Ссылка на скачивание - внизу страницы.