Измерение размеров и контроль качества поверхностей деталей оптико-механическим способом, страница 32

10.Вычислить высоту неровностей поверхности на каждом из пяти участков по формуле

N1 − N2 h =τ.

2k

Рис. 4. Поле зрения микроскопа при снятии показаний N₁ и N₂

11.Определить среднюю высоту неровностей

5

∑h_i

                                                                                     Rz = i=1             .

5

12.По табл. 1 (ГОСТ 2789-73) определить класс чистоты поверхности детали.

13.Данные замеров и результаты расчетов занести в табл. 3.

Таблица 3 Результаты измерений

Библиографический список

1.  Якушев А. И. Взаимозаменяемость, стандартизация и технические измерения. М.: Машиностроение, 1986.

2.  Белкин И. М. Допуски и посадки. М.: Машиностроение, 1992.

Лабораторная работа № 8

КОНТРОЛЬ ЧИСТОТЫ ПОВЕРХНОСТИ НА МИКРОИНТЕРФЕРОМЕТРЕ МИИ-4

Цель работы: ознакомиться с требованиями ГОСТ 2789-73 на чистоту поверхности, с принципом действия и устройством микроинтерферометра МИИ-4 и выработать навыки работы по определению класса чистоты поверхности с помощью микроинтерферометра МИИ-4.

Описание работы

Микроинтерферометр МИИ-4 является оптикомеханическим прибором. Предназначен для лабораторных измерений высоты микронеровностей R_а и фотографирования шероховатости поверхности с 10 по 14 классы чистоты по ГОСТ 2789-73. Погрешность измерений ± 5 % от измеряемой величины.

Измерение микронеровностей на этом приборе основано на получении интерференционной картины в результате сложения (интерференции) двух систем волн.

Оптическая схема прибора приведена на рис. 1.

От источника света 1 пучок лучей через проекционный объектив 2 падает на разделительную пластинку 3, на одной из граней которой нанесено светоделительное покрытие. Часть пучка лучей отражается от пластины 3, собирается в фокусе объектива 4 на исследуемой поверхности 28, отражается от нее, снова проходит через объектив 4, пластину 3 и собирается в фокусе объектива 8, где наблюдается изображение шероховатости поверхности.

Вторая часть пучка лучей, проходя через разделительную пластинку 3, падает на компенсатор 5 и собирается в фокусе объектива 6 на зеркале 7, отразившись от которого и вновь пройдя через объектив 6, падает на пластинку 3; отразившись от нее, собирается в фокусе объектива 8 и интерферирует с лучами первой части пучка. Зеркало 9 направляет пучки лучей в окуляр 10. При фотографировании зеркало 9 отводится, и лучисвета через фотоокуляр 11 падают на зеркало 12 и матовое стекло 13.

При незначительном смещении объектива 6 в направлении, перпендикулярном к его оптической оси, возникает разность хода между обоими пучками лучей, в результате чего создается интерференционная картина, т. е. система светлых и темных полос в поле зрения окуляра.

Рис. 1. Оптическая схема МИИ-4: