Методичні вказівки до лабораторних робіт з дисципліни «Основи метрології, стандартизації та управління якістю», страница 8

Далі за даними табл. 1.2 треба побудувати графік Δ_с = f(D) залежності систематичної складової похибки  денситометра від значення вимірюваної оптичної щільності D. При побудові графіка (рис. 1.2), визначені значення Δ_с наносяться на графік з протилежними знаками, що дозволяє автоматично врахувати знак поправки при визначенні дійсного значення оптичної щільності відбитка.

Рисунок 1.2 – Залежність систематичної похибки показів денситометра від значення вимірюваної оптичної щільності

На графік наносять також значення абсолютної похибки (див. рис. 1.2). Для цього з обох сторін від кривої Δ_с = f(D) відкладають значення ± 3σ і з’єднують між собою пунктирними лініями. Графік слугує також для виконання другої частини лабораторної роботи.

1.2.3 Визначення дійсних значень оптичної щільності тиражного відбитку

Завданням другої частини лабораторної роботи є визначення дійсних значень оптичної щільності тиражного відбитка за індивідуальними варіантами.

         Для цього спочатку (як і у першій частині) треба виміряти у 6 місцях оптичну щільність кожного з полів растрової шкали на тиражному відбитку.

        Далі треба визначити  за допомогою рис. 1.2 для кожного її поля систематичну складову похибки Δ_с, яка слугуватиме поправкою. Знак поправки повинен бути протилежним знакові похибки. Якщо похибка завищує результат, то поправка буде зі знаком мінус і навпаки. Наприклад, одне з полів відбитку має оптичну щільність 0,5Б (див. рис. 1.2). Для знаходження відповідного йому значення поправки, що враховує Δ_с, встановлюють перпендикуляр від значення 0,5 Б до перетину з кривою Δ_с = f(D) (на рис. 1.2 точка В). А далі, як видно з рис. 1.2, знаходять відповідне Δ_с (у даному прикладі Δ_с = 0,03 Б).

          Потім потрібно визначити середнє квадратичне відхилення σ_j на кожному j-му полі нормалізованої шкали за формулою (1.6) і випадкову складову Δ_вj похибки у кожному полі за формулою (1.7).