Методичні вказівки до лабораторних робіт з дисципліни «Основи метрології, стандартизації та управління якістю», страница 14

Імовірність помилки першого роду називається рівнем значущості гіпотези α. Імовірність помилки другого роду дорівнює β. Імовірність відхилення хибної гіпотези дорівнює 1– β і називається потужністю критерію.

За допомогою методів перевірки статистичних гіпотез можна вирішити ряд таких задач:

•  чи правильно налагоджений ТП? Гіпотеза Н₀ : = т₀, де   – середнє значення вибірки; т₀  – рівень налагодження обладнання (т₀ у більшості випадків відповідає середині поля допуску);

•  чи      є      стабільним      ТП      за      рівнем      налагодження?
Гіпотеза Н₀ :  = , де  і   –  середні вибіркові значення з
двох миттєвих вибірок, взятих за час t₁ і t₂;

•  чи є стабільним ТП за рівнем точності? Гіпотеза Н₀ : S₁ = S₂,

де S₁ і S₂ – середні квадратичні відхилення,  що визначаються з двох вибірок за певні проміжки часу.

          Методи перевірки статистичних гіпотез можна поширити на ряд інших подібних задач,  які стосуються, наприклад, різних партій виробів, та ін.

2.3 Порядок виконання роботи

Оцінка точності та стабільності ТП виготовлення фотоформ  (за індивідуальними варіантами – додаток В, таблиця В.1) виконується у такій послідовності:

1.Відбір вибірок фотоформ.Відібрати 2 миттєвих вибірки випадковим методом по 5 фотоформ у кожній вибірці. Зручніше брати некратну кількість виробів (фотоформ) у вибірці, кількість виробів у контрольованих вибірках може бути різною.

2. Вимірювання оптичної щільності фотоформ.За допомогою денситометру у прохідному світлі треба виміряти оптичну щільність фотоформ (D) у вибірках. Заміри треба записати за зразком табл. 2.1. Наприклад, зроблено 3 миттєвих вибірки по 5 фотоформ у кожній. Необхідно оцінити точність і стабільність технологічного процесу за першою і третьою вибірками. Дані вимірів та розрахунків для прикладу наведені у табл. 2.1.