Анализ точности электронных средств. Работы по вероятностно-статистическим методам анализа, страница 19

b = 0,5             М(z) = 100
26 207 4 3 540 18 1 31 10 3 668 127	17 56 108 1 22 1 101 1 43 10 83 105	51 61 0 25 24 1775 29 371 331 0 40 17	11 1271 137 11 127 13 220 16 19 9 27 25	1 79 12 113 105 74 46 4 12 753 813 4	47 0 1084 326 2 2076 512 34 127 209 0 26	0 881 71 3 51 572 1928 112 18 38 32 322	13 60 34 178 832 15 142 200 43 404 27 191	767 616 59 273 501 1 18 24 79 0 208 64	7 38 34 226 1 39 89 169 353 121 3 211
b = 1,5             М(z) = 1000
1624 1124 1284 634 512 856 460 770 1079 495 165 1497	1371 178 884 420 510 1051 1282 500 619 464 296 1072	429 203 595 742 1992 125 283 183 424 70 1576 776	292 1393 1719 696 1141 991 1366 2195 461 686 1153 317	196 638 212 1447 1126 388 1346 412 1279 29 532 576	645 894 514 1383 1454 296 1559 43 799 2400 1709 140	995 1833 1742 551 546 788 803 1819 1432 1004 1617 127	1869 1690 1193 214 449 1092 842 655 852 1236 986 278	995 921 133 364 1648 1968 101 236 822 1180 1257 822	2730 929 1452 762 1275 2847 1863 1094 793 142 2502 2652
b = 2,0             М(z) = 1000
1452 359 957 688 1249 640 1558 2124 538 689 219 476	969 871 596 1203 403 1791 1288 328 1731 876 1925 836	1124 1332 969 1128 908 749 703 1398 931 1261 939 728	1559 1284 194 882 651 508 1205 1481 497 1151 855 1041	1061 909 1204 331 2670 588 1045 583 584 866 857 893	1998 1226 1142 350 2080 582 1302 609 826 761 963 954	1037 454 1655 1540 1425 448 1111 501 1539 1113 1177 645	507 242 1393 355 1164 1358 790 1144 1360 1097 1217 484	310 841 537 676 716 201 1261 356 688 879 231 640	1101 565 1460 341 822 1618 983 305 1080 815 1882 2075

Библиографический список

1. Вентцель Е.С. Теория вероятностей. – М.: Высш. шк., 1999.– 576 с.

2. Управление качеством электронных устройств: Учеб. для вузов / О.П. Глудкин, А.И. Гуров, А.И. Коробов и др.; Под ред. О.П. Глудкина. – М.: Высш. шк., 1994. – 416 с.

3. Фомин А.В., Борисов В.Ф., Чермошенский В.В. Допуски в радиоэлектронной аппаратуре. – М.: Сов. радио, 1973. – 108 с.

4. Шор Я.Б., Кузьмин Ф.И. Таблицы для анализа и контроля надежности. – М.: Сов. радио, 1968. – 288 с.

5. Талицкий Е.Н. Введение в статистическое моделирование на ЭЦВМ: Учеб. пособие / Иваново, 1975. – 56 с.

Оглавление

Введение……………………………………………………………………...   3

Лабораторная работа № 1. Определение закона распределения параметра радиоэлемента…………………………………………………  5

Лабораторная работа № 2. Определение коэффициентов влияния и расчет электрических допусков………………………………………. 10

Лабораторная работа № 3. Определение точности методом матричных испытаний…………………………………………………... 19

Лабораторная работа № 4. Определение точности методом статистических испытаний……………………………………………… 27

Приложение………………………………………………………………… 33

Библиографический список……………………………………………….. 41

АНАЛИЗ ТОЧНОСТИ ЭЛЕКТРОННЫХ СРЕДСТВ

Методические указания к лабораторным работам

Составитель

Талицкий Евгений Николаевич

Ответственный за выпуск – зав.кафедрой профессор М.В. Руфицкий

Редактор-корректор Е.П. Викулова

Верстальщик Е.Г. Радченко

ЛР № 020275. Подписано в печать 02.12.02.

Формат 60х84/16. Бумага для множит. техники. Гарнитура Таймс.

Печать офсетная. Усл.-печ. л. 2,56. Уч.-изд. л. 2,71. Тираж 100 экз.

Заказ

Редакционно-издательский комплекс

Владимирского государственного университета.

600000, Владимир, ул. Горького, 87.

Владимирский государственный университет

Анализ точности

электронных средств

Методические указания

к лабораторным работам

 

Владимир 2002