5.4. РЕПЛИКИ С ФИКСИРОВАННЫМИ ЧАСТИЦАМИ И ФОЛЬГИ С ТОНКОСЛОЙНЫХ ПОКРЫТИЙ
Реплики, на поверхности которых содержатся отдельные кристаллы или сплошной слой какой-либо фазы, извлеченной из покрытия, позволяют проводить прямое исследование с помощью ПЭМ с применением метода микродифракции.
Приемы получения реплик с фиксированными частицами довольно разнообразны и их выбор прежде всего зависит от электрохимических свойств, т. е. является ли оно катодным или анодным по отношению к основе. Учитывается также расположение фазы по сечению покрытия, толщина, прочность и сплошность слоя этой фазы.
Если намеченная к исследованию фаза находится не на поверхности покрытия, то приготовление реплики с фиксированными частицами начинают с удаления вышележащих слоев с помощью химического или электрохимического травления.
Далее на обнаженную фазу катодного покрытия напыляют угольную реплику, которую вместе с фазой затем отделяют в электролите, способном подтравливать лежащие ниже слои. Если слой фазы тонкий (менее 0,1 мкм) и достаточно прочный (не разрушается в процессе отделения), то операцию напыления угольной реплики можно исключить. В этом случае полученный препарат по сути представляет фольгу, пригодную для электронно-микроскопического исследования.
Толстые слои фаз (более 0,1 мкм) необходимо утончать с помощью травления. Лучше эту операцию проводить на образце, до отделения слоя фазы.
5.5. УГОЛЬНЫЕ РЕПЛИКИ ОТ ПОВЕРХНОСТИ ОТСЛОЯ ЗАЩИТНОГО ПОКРЫТИЯ
Реплики, полученные от поверхности отслоя защитного покрытия на стали, представляют собой разновидность реплик, получаемых от поверности разрушения при фрактографическом исследовании металлов. С помощью этих реплик при электронно-микроскопическом исследовани в основном решаются те же задачи, что и при микрофрактографическом исследовании. Они позволяют определить наиболее слабое звено в механической связи покрытия с основой и выявить характер поверхности разрушения. Эти данные служат основанием для поиска технологического решения по совершенствованию процесса нанесения покрытия.
В качестве образцов для получения реплик с поверхности отслоя обычно используют листовой материал с защитным покрытием после его технологического испытания на изгиб. С помощью этого испытания оценивают уровень прочности сцепления покрытия с основой. Изгиб пластины листового материала делают с прокладкой из того же самого материала или без нее. Отслаивание покрытия обычно начинается в участках, испытывающих наибольшую степень деформации при изгибе пластины.
При очень слабом сцеплении покрытия с основой отслой удается получить, зацепив слой покрытия с края образца пинцетом. Поверхность отслоя может проходить как по сечению слоев различных фаз, так и по их границам. Для получения более полной информации о микроструктуре и фазах на поверхности разрушения рекомендуется угольные реплики делать по обеим сторонам отслоя — как со стороны основы, так и покрытия.
Подготовка образцов для исследования в растровом электронном микроскопе достаточно проста, однако следует соблюдать определенные требования, связанные с особенностями метода.
Размер образцов ограничен размером сменных объектодержателей, которыми оснащен прибор. В большинстве используемых в настоящее время растровых микроскопов максимальный диаметр объектодержателя составляет 20 мм, высота не более 10 мм. Могут быть исследованы образцы любых меньших размеров, в том числе менее 1 мм (микронная проволока, лента и др.).
При резке образцов для исследования на РЭМ под требуемый размер (так, например, образцы после испытаний на ударный изгиб требуется отрезать до высоты 10 мм) необходимо избегать нагрева и загрязнений исследуемой поверхности. В этом случае поверхность, подлежащая исследованию, тщательно закрывается фольгой. Во избежание нагрева резка производится медленно, с остановками, применяется охлаждение водой или эмульсией. После резки следы эмульсии и влаги удаляются, затем фольга снимается, образец промывается в спирте или ацетоне и обдувается сжатым воздухом до полного удаления жидкости.
Уважаемый посетитель!
Чтобы распечатать файл, скачайте его (в формате Word).
Ссылка на скачивание - внизу страницы.