Ручьистый узор—это ступеньки между участками трещины на параллельных плоскостях скола в пределах одного зерна. При распространении трещины в соседние зерна с иной ориентировкой детали рельефа изменяются. При пересечении малоугловых границ ступеньки скола не прерываются, в случае значительных разориентировок (границы кручения) образуются новые ступеньки. Объединение ступенек указывает на направление распространения трещины Очагами скола нередко служат выделения на границах зерен (стыке нескольких зерен).
Квазискол—промежуточный вид излома, для которого характерно наличие на поверхности разрушения плоских участков—фасеток с гребнями отрыва, образующимися в результате пластической деформации в условиях сложной микроструктуры. Гребни отрыва выявляются часто в виде «отворотов» реплики, что указывает на острый рельеф детали отрыва. В таком изломе отсутствуют типичные ямки и ручьистый узор. В некоторых случаях в таком изломе выявляются структурные составляющие (перлит, бейнит, мартенсит).
Большое влияние на формирование вязкого излома после разрушения и при комнатной или низких температурах оказывают неметаллические включения. Метод фрактографии является единственным, который позволяет оценивать роль неметаллических включений—формы, состава, размеров и их распределения на характер разрушения и технологические или служебные свойства металла.
Хрупкое разрушение по кристаллографическим плоскостям матрицы, при комнатной и низких температурах, проходит практически мгновенно и образование пор у включений произойти не успевает. На поверхности внутризеренного скола иногда наблюдаются лишь случайно оставшиеся включения, обычно крупные и округлые по форме.
5. МЕТОДЫ ПРИГОТОВЛЕНИЯ ЭЛЕКТРОННО-МИКРОСКОПИЧЕСКИХ ОБЪЕКТОВ ДЛЯ ИССЛЕДОВАНИЯ СТРУКТУРЫ ЗАЩИТНЫХ ПОКРЫТИЙ НА СТАЛИ
Покрытия как правило состоят из металлического слоя (олова, цинка, и др), диффузионного слоя и слоя (слоев), обеспечивающего дополнительную коррозионную защиту (например, хроматного, лакового и др.).
Диффузионный слой в свою очередь часто состоит из прослоек различныx фаз в виде интерметаллических соединений и твердых растворов Общая толщина покрытий обычно находится в пределах от сотых до лей до 10—20 мкм. Композиция слоев по сечению покрытия, отличающихся по своим химическим, физическим свойствам, и сравнительно небольшая их толщина создают определенные трудности при подготовке электронно-микроскопических объектов.
Так, при травлении в реактивах металлы покрытия и основы часто образуют интенсивно работающую короткозамкнутую пару, что сильно ограничивает возможности выявления их микроструктуры. Кроме того, слои покрытия бывают настолько тонки, что прежде, чем образуется на поверхности рельеф травления, отражающий микроструктуру, сам слой может быть полностью удален. Также не всегда удается использовать традиционный метод механического приготовления микрошлифов (шлифование, полирование) из-за того, что образующийся при такой обработка наклепанный слой часто бывает толще самого покрытия
В зависимости от поставленной задачи исследование покрытий с помощью ПЭМ часто проводят на репликах, полученных с косого, поперечного сечений покрытий, или—с его плоскостей, параллельных основе. При этом используют реактивы, обладающие широким спектром травления, позволяющие одновременно выявлять микроструктуру различных слоев, значительно отличающихся по химическому составу. Разработаны также методы получения фольг некоторых весьма тонких слоев покрытий.
В последние годы для исследования покрытий начинает применяться растровая электронная микроскопия (РЭМ). Использование РЭМ наиболее эффективно при исследовании сравнительно толстых защитных покрытий. Исследование тонкослойных покрытий в силу еще сравнительно невысокой разрешающей способности РЭМ не всегда бывает удачным,
5.1. РЕПЛИКИ С КОСОГО СЕЧЕНИЯ СЛОЯ ПОКРЫТИЙ
Исследование микроструктуры покрытий толщиной более 0,1—0,3 мкм удобно проводить по косому их сечению на репликах без экстракции.
Уважаемый посетитель!
Чтобы распечатать файл, скачайте его (в формате Word).
Ссылка на скачивание - внизу страницы.