ЧаВо
О проекте
Отзывы
Обучение и курсы
Технические предметы
\
Электротехника
Элементная база радиоэлектронных средств
Воронежский государственный технический университет (ВГТУ)
Дипломы, ГОСы
Алгоритмические методы измерения динамических параметров макромоделей многополюсных радиокомпонентов
Измерительно-контрольное устройство для тестера параметров радиоэлементов
Разработка универсального автоматизированного тестера радиоэлементов
Состав и структура стенда для измерения ВАХ (Экспериментальная часть)
Конспекты лекций
Базовая схема бустерного стабилизатора. Фаза заряда дросселя. Определение параметров бустерной схемы
Методические указания и пособия
Анализ статистических параметров радиоэлементов массового производства: Методические указания к выполнению лабораторной работы № 1 по курсу "Элементная база РЭС"
Высокочастотные катушки индуктивности и трансформаторы питания: Методические указания по выполнению лабораторных работ № 3,4
Линии задержки электрических сигналов: Методические указания по выполнению лабораторной работы № 5
Практика
Измерение параметров двухполюсника. Алгоритм определения внутреннего сопротивления реального источника сигнала
Калибровка измерительных цепей. Измерение динамических параметров двухполюсных элементов
Математические модели транзисторов. Макромодели биполярных транзисторов
Статьи
Алгоритмические методы измерения Y-параметров многополюсных радиокомпонентов
Измерительные задачи при идентификации параметров моделей радиоэлектронных компонентов для САПР электронных схем
К вопросу измерения Y-параметров многополюсников при реальном источнике сигнала
К учёту систематических погрешностей определения динамических параметров многополюсников при машинно-ориентированных методах измерения
Калибровка измерительных цепей при определении параметров двухполюсных и многополюсных радиокомпонентов
Оптимизация активного факторного эксперимента при измерении вольт-амперных характеристик биполярных транзисторов
Особенности программирования микропроцессора КМ1816ВЕ35 для использования в составе IBM PC
Устройства для измерения статических и динамических параметров транзисторов алгоритмическими методами