- зрозуміти суть різниці в поляризації властивостей звичайних діелектриків і сегнетоелектриків;
- вивчити порядок роботи на лабораторній установці;
- виробити послідовність операцій проведення експериментів;
- підготовити протоколи для записів результатів;
- отримати у викладача допуск до виконання роботи і завдання з досліджуваного матеріалу.
- при підготовці до лабораторної роботи необхідно ознайомитися з теоретичним матеріалом, що викладений у [6, с. 262...273, 7, с. 52...56.].
4.3 Опис лабораторної установки
Для дослідження сегнетоелектриків застосовується осцилографічний метод (рис. 4.1).
Рисунок 4.1 – Схема методу вимірювання
Основним електровимірювальним пристроєм є електронний осцилограф. Для визначення заряду, вмісткості і втрат конденсатора з досліджуваним діелектриком Сх з’єднуються послідовно зі зразковим конденсатором С0 (рис. 4.2а), вмісткість якого відома. Діелектрик конденсатора має малі втрати і його вмісткість не змінюється при вимірі прикладеного до нього напруження (C0>>Сх), тому Ux>>U0 і UxU. До послідовно включеного конденсатора С0 і Сх підводиться перемінна напруга, величину якої можна регулювати і вимірювати вольтметром. Напруга Ux конденсатора Сх подається на пластини горизонтального відхилення, напруга U0 конденсатора С0 – на пластини вертикального відхилення.
При послідовному з’єднанні двох конденсаторів їхні заряди дорівнюють один одному:
Qx=Q0=U0С0, (4.1)
Отже, напруга U0 пропорційна заряду Qx досліджуваного конденсатора і на екрані осцилографа утворюється координатна система Qx, Ux. Так як між зарядом Q і
|
|
|
Уважаемый посетитель!
Чтобы распечатать файл, скачайте его (в формате Word).
Ссылка на скачивание - внизу страницы.