Эмиссионные характеристики ПИЭЛ приведены на рис. 16. Кривая 2 получена при условии, когда ток эмиссии I зависит от давления, а кривая 1 — в отсутствие такой зависимости. В обоих случаях эмитирующая поверхность располагается в разрядной камере (см. рис. 2, в). При этом повышение плотности эмиссионного тока с увеличением тока разряда Iр приводит к сокращению поверхности токоотбора, что обусловливает нелинейность зависимости 1 и снижение эффективности извлечения I/Iр. В случае зависимости I от р на эффективность извлечения также влияет снижение давления в промежутке из-за откачивающего действия разряда и перемещения эмиссионной поверхности в область более низких давлений. Этим можно объяснить сближение характеристик при больших разрядных токах..
Ток ПИЭЛ анализировался при допущении, что напряженность магнитного поля в области токоотбора меняется скачком вследствие экранирующего действия ферромагнитной вставки. Экспериментально определенное на крупномасштабной модели ПИЭЛ отношение напряженности магнитного поля в плазме и в области эмитирующей поверхности составляет 170. Появление в ускоряющем промежутке ионов, как показано в гл. 2, в общем случае изменяет его первеанс и длину d. Однако при высоких ускоряющих напряжениях положение плазменной границы в ПИЭЛ стабилизировано из-за трудности проникновения извлекающего поля через малое отверстие в разрядную камеру, поэтому в расчетах d принимали постоянным.
Рис. 16. Эмиссиоиные характери-стнки ПИЭЛ [46] для Fе — воз* дух: . 17=20 кВ; B=8-10-2 Тл |
Плотность тока
j =je0+gpji (32)
При использовании выражения Моргулиса [47] для вероятности ионизации с учетом того, что U>>Ui получено
ji=jQe0pda1b(b-Ui)/U (33)
где a1,b,Ui— постоянные, зависящие от типа газа.
Для коэффициента ионно-электронной эмиссии плазмы gp применяли выражение (24) в виде
gp =`ue^/(4Di^Qu0p) (34)
где Di ^= Di ( 1 + w i2t i 2)-1 и `ue^=`ue ( 1 + w e2t e 2)-1 — коэффициент диффузии ионов и средняя скорость электронов, поперечная магнитному полю; w i , w e— циклотронные частоты ионов в плазме и электронов на границе плазмы; t i ,t e — средние времена передачи импульса иона и электрона в плазме.
Подставляя в (32) соотношения (33) и (34), получаем
je=j{1-[3pQe0 Q0i dab(b-Ui)*ÖTe M/Ti m(1+w i2t i 2)/(4Qu0 U)(1+w e2t e 2)]}-1 (35)
В результате имеем монотонно возрастающую зависимость, близкую к экспериментальной (см. рис. 14). Расхождение можно обусловить как упрощенным характером использованной в работе [46] одномерной модели, так и неучтенными при расчетах собственными электрическими полями, существующими в газоразрядной плазме, а также электрическими полями, которые могут возникнуть при неполной компенсации положительного заряда.
9. ЭЛЕКТРОННЫЕ ИСТОЧНИКИ С ПРОДОЛЬНЫМ ИЗВЛЕЧЕНИЕМ ЭЛЕКТРОНОВ
При извлечении электронов из отражательного разряда вдоль магнитного поля условия формирования пучка облегчаются по сравнению с формированием в системах с поперечным извлечением электронов. Кроме того, упрощается конструктивная схема ПИЭЛ, приближаясь к хорошо отработанной схеме ионного источника с холодным катодом в магнитном поле [1]. На возможность создания ПИЭЛ на основе ионного источника пеннинговского типа впервые обратил внимание Келлер [34]. Результаты первых исследований продольного извлечения электронов из отражательного разряда с холодным катодом содержатся в работах [35, 36]. Эксперименты проводились для системы с алюминиевыми катодами, кольцевым и цилиндрическим анодом при условиях, далеких от тех, которые обычно имеют место в электронных и ионных источниках, а именно при низких извлекающих напряжениях (до 1000 В), при слишком большом эмиссионном отверстии (диаметр 4 мм) и относительно высоких напряжениях горения разряда (400—1000 В). Извлеченный из разряда электронный ток не превышал 3 мА при эффективности извлечения а≤5% и энергетической эффективности 6Х10-2 мА/Вт.
Уважаемый посетитель!
Чтобы распечатать файл, скачайте его (в формате Word).
Ссылка на скачивание - внизу страницы.