(см. табл. 6.18). Контроль самодвойственности функции состоит в проверке в каждом периоде того факта, что значения функции в информационном и контрольном тактах инверсны друг другу. На рис. 6.54 приведена временная диаграмма работы схемы при наличии в ней неисправности «константа 0» на нижнем входе элемента 2.
Рис.6.54. Временная диаграмма работы схемы с неисправностью
Эта неисправность проявляется на наборах 7 и 15 путем искажения значения сигнала типа 0 1. Поэтому у сигнала z нарушается самодвойственность в первом и последнем периодах временной диаграммы, когда на вход поступают наборы 0, 15 и 8, 7.
На рис. 6.55 приведена схема контроля на основе самодвойственного паритета.
Рис.6.55. Схема самодвойственного паритета
В этом случае выходы основного блока объединяются с помощью схемы из элементов М2 для расчета бита четности . Блок реализует -функцию, дополняющую до самодвойственной функции .
6.8. Обнаружение неисправностей в схемах с памятью
На рис. 6.56 приведена структура многотактной схемы с обнаружением отказов.
Рис.6.56. Структура многотактной схемы с обнаружением отказов
Комбинационная часть схемы разделена на два блока. Логический преобразователь (ЛП) реализует функции включения элементов памяти (ЭП), составляющих блок памяти (БП), а выходной преобразователь (ВП) – функции выходов.
Для организации контроля в схему вводятся дополнительные ЭП (блок ДБП) с таким расчетом, чтобы векторы , соответствующие рабочим внутренним состояниям схемы, являлись словами какого-либо кода с обнаружением ошибок. При этом разряды вектора соответствуют основным ЭП, расположенным в блоке БП, а разряды – дополнительным ЭП, расположенным в блоке ДБП. Для управления дополнительными ЭП формируется дополнительный логический преобразователь (блок ДЛП). Для контроля ВП используется другой код с обнаружением ошибок. При этом могут вводиться дополнительные контрольные выходы схемы, реализуемые дополнительным выходным преобразователем (блок ДВП).
Неисправности элементов блоков ЛП и БП приводят к искажению вектора , характеризующего состояние системы элементов памяти, что фиксируется самопроверяемым тестером СПТ1. Тестер СПТ2 контролирует исправное состояние блоков ВП и ДВП. Если на вход схемы информация поступает также в виде слов кода с обнаружением ошибок, то последний контролируется при помощи СПТ3. Парафазные выходы всех тестеров объединяются посредством МС, в результате чего образуется единый парафазный выход контроля.
На рис. 6.57 приведена структура самопроверяемой самодвойственной многотактной схемы.
Рис.6.57. Структура самопроверяемой самодвойственной
многотактной схемы
Логический и выходной преобразователи, являющиеся комбинационными схемами, преобразуются в самодвойственные схемы в соответствии с рис. 6.46. В образованной схеме ЛП описывается СД-функциями , а ВП – самодвойственными функциями . Линии задержки (ЛЗ) дублируются. Каждая ЛЗ осуществляет задержку на время, равное половине периода импульсной последовательности (см. рис. 6.40). Самодвойственные сигналы, формируемые на выходах блока ВП, при помощи схемы сжатия сводятся к одному контрольному сигналу . Неисправности элементов ЛП и линий задержки приводят к появлению несамодвойственных сигналов на входах ВП, что фиксируется по выходу .
Уважаемый посетитель!
Чтобы распечатать файл, скачайте его (в формате Word).
Ссылка на скачивание - внизу страницы.