(см. табл. 6.18). Контроль
самодвойственности функции состоит в проверке в
каждом периоде того факта, что значения функции в информационном и контрольном
тактах инверсны друг другу. На рис. 6.54 приведена временная диаграмма работы
схемы при наличии в ней неисправности «константа 0» на нижнем входе элемента 2.
Рис.6.54. Временная диаграмма работы схемы с неисправностью
Эта неисправность проявляется на
наборах 7 и 15 путем искажения значения сигнала типа 0
1. Поэтому у сигнала z нарушается
самодвойственность в первом и последнем периодах временной диаграммы, когда на
вход поступают наборы 0, 15 и 8, 7.
На рис. 6.55 приведена схема контроля на основе самодвойственного паритета.
Рис.6.55. Схема самодвойственного паритета
В этом случае выходы основного
блока объединяются с помощью схемы из элементов
М2 для расчета бита четности
. Блок
реализует
-функцию,
дополняющую
до самодвойственной функции
.
6.8. Обнаружение неисправностей в схемах с памятью
На рис. 6.56 приведена структура многотактной схемы с обнаружением отказов.
Рис.6.56. Структура многотактной схемы с обнаружением отказов
Комбинационная часть схемы разделена на два блока. Логический преобразователь (ЛП) реализует функции включения элементов памяти (ЭП), составляющих блок памяти (БП), а выходной преобразователь (ВП) – функции выходов.
Для организации
контроля в схему вводятся дополнительные ЭП (блок ДБП) с таким расчетом, чтобы
векторы , соответствующие рабочим внутренним
состояниям схемы, являлись словами какого-либо кода с обнаружением ошибок. При
этом разряды вектора
соответствуют основным ЭП,
расположенным в блоке БП, а разряды
– дополнительным ЭП,
расположенным в блоке ДБП. Для управления дополнительными ЭП формируется дополнительный
логический преобразователь (блок ДЛП). Для контроля ВП используется другой код
с обнаружением ошибок. При этом могут вводиться дополнительные контрольные
выходы схемы, реализуемые дополнительным выходным преобразователем (блок ДВП).
Неисправности элементов
блоков ЛП и БП приводят к искажению вектора , характеризующего состояние системы
элементов памяти, что фиксируется самопроверяемым тестером СПТ1. Тестер СПТ2
контролирует исправное состояние блоков ВП и ДВП. Если на вход схемы информация
поступает также в виде слов кода с обнаружением ошибок, то последний
контролируется при помощи СПТ3. Парафазные выходы всех тестеров объединяются посредством
МС, в результате чего образуется единый парафазный выход контроля.
На рис. 6.57 приведена структура самопроверяемой самодвойственной многотактной схемы.
Рис.6.57. Структура самопроверяемой самодвойственной
многотактной схемы
Логический и выходной
преобразователи, являющиеся комбинационными схемами, преобразуются в
самодвойственные схемы в соответствии с рис. 6.46. В образованной схеме ЛП
описывается СД-функциями , а ВП – самодвойственными
функциями
. Линии задержки (ЛЗ) дублируются. Каждая
ЛЗ осуществляет задержку на время, равное половине периода импульсной
последовательности
(см. рис. 6.40).
Самодвойственные сигналы, формируемые на выходах блока ВП, при помощи схемы
сжатия сводятся к одному контрольному сигналу
.
Неисправности элементов ЛП и линий задержки приводят к появлению несамодвойственных
сигналов на входах ВП, что фиксируется по выходу
.
Уважаемый посетитель!
Чтобы распечатать файл, скачайте его (в формате Word).
Ссылка на скачивание - внизу страницы.