Край основного поглощения света в аморфных и стеклообразных полупроводниках имеет 3 участка. В области высоких значений коэффициента поглощения см-1, его зависимость от частоты: , где см-1·эВ-1, - оптическая ширина запрещенной зоны. При 1,0 см-1 , где А = 15-20 эВ-1. При <1 см-1 поглощение обусловлено дефектами структуры.
В большинстве аморфных и стеклообразных полупроводников наблюдается значительная фотопроводимость , где L - интенсивность света; . Спектральное распределение имеет максимум и пологую длинноволновую ветвь; зависимость имеет максимум в той области T, где , а при понижении температуры спадает вначале экспоненциально, а затем более полого. Особенности объясняются "прилипанием" и рекомбинацией неравновесных носителей на локальных центрах, непрерывно распределенных по энергии по определенному (в частности, по экспоненциальному) закону. В ХСП наблюдаются ряд специфических явлений, например уменьшение люминесценции в процессе возбуждения, что коррелирует с явлениями фотоиндуцированного электронного парамагнитного резонанса (ЭПР) и фотоиндуцированного поглощения света. Эти особенности объясняются наличием заряженных дефектов, которые при низкотемпературном освещении становятся нейтральными и парамагнитными.
2.3 Зависимость оптических свойств от атомной структуры
В полностью координированных системах порядок в пределах молекулярных единиц ответствен большей частью за ширину электронных зон, чем объясняется обнаруженное ранее подобие оптических запрещённых зон многих веществ в их аморфных и кристаллических фазах. И наоборот, удаётся также объяснить большие различия в ширине запрещённой зоны, например для фаз мышьяка, у которого имеются разные молекулярные единицы. Топологический беспорядок ответствен за общую форму распределения плотности состояний. Но некоторые детали формы не зависят от топологии, и они наблюдаются в плотности состояний и кристаллической, и аморфной фаз. Ряд особенностей формы зависит от структурной статистики, и такие особенности должны были бы вести к различиям в оптических спектрах двух фаз. Однако эти различия сильно замаскированы, поскольку в аморфных полупроводниках даже вдали от краёв зон атомный потенциал настолько велик, что даже слабые отклонения в распределении длин и углов связи с ближайшими соседними атомами для идентичных в других отношениях молекулярных единиц ведут к сильному электронному рассеянию и малой длине когерентности волновых функций. Действительно, длина когерентности имеет величину порядка постоянной кристаллической решётки, а соответствующая неопределённость волнового вектора по порядку величины близка к величине самого волнового вектора. При таких условиях правило отбора импульсов при оптических переходах нарушается, что и является, по-видимому, одним из наиболее важных различий между свойствами кристаллической и аморфной фаз.
2.4 Фотопроводимость
Фотопроводимостью называется изменение электропроводности при освещении материала электромагнитным излучением. Избыточная проводимость возникает под действием поглощаемого света, если плотности носителей заряда n и p возрастают по сравнению с их значениями в состоянии теплового равновесия:
(4)
При низких температурах величины и могут быть значительно больше соответствующих равновесных плотностей и . В стационарном состоянии избыточные плотности равны скорости генерации g(т. е. числу носителей, генерируемых в единицу времени в единице объема), умножен-
ной на их среднее время жизни :
(5)
Скорость генерации определяется квантовым выходом η, который равен числу электронно-дырочных пар, рождающихся при поглощении одного фотона.
Неравновесные носители заряда существуют до тех пор, пока не исчезнут в результате рекомбинации, которая осуществляется, вообще говоря, по трем каналам: прямая рекомбинация свободного электрона со свободной дыркой, захват электрона центром, на котором локализована дырка, а также захват дырки центром, на котором имеется связанный электрон. В стационарном состоянии скорость генерации носителей равна скорости рекомбинации.
Рис. 2. Зависимость «темновой» проводимости
и фотопроводимости от температуры для Ge15Te81Sb8S2
при разных интенсивностях возбуждения.
При изменении температуры фотопроводимость большинства аморфных полупроводников изменяется так, как показано на рис.2. Здесь представлены кривые зависимости фотопроводимости от обратной температуры
для образца Ge15Te81Sb8S2. В области высоких температур (режим I) фотопроводимость экспоненциально растет с 1/Т, обнаруживая хорошо определенную энергию активации. Кроме того, видна линейная зависимость от интенсивности возбуждающего света. При более низких температурах (режим II), фотопроводимость уменьшается с 1/T и пропорциональна квадратному корню из интенсивности света. При еще более низких температурах кривые фотопроводимости, по-видимому, достигают насыщения. Максимум температурной зависимости обычно имеет место вблизи температуры, при которой «темновой» ток превышает фототок [1].
3. Аморфные Siи Ge
Из-за того, что аморфные полупроводники IV группы Si и Ge обладают открытой структурой, их свойства сильно отличаются от свойств стеклообразных аморфных полупроводников, таких, как As2S3, которым было посвящено множество экспериментальных работ. Более того, Si и Ge могут быть получены в очень чистом виде, а их свойства в кристаллическом состоянии хорошо изучены и поняты. Широко изучались свойства этих материалов и в аморфном состоянии, что дало прекрасную возможность провести сравнение свойств двух форм одного и того же вещества. Поэтому перед тем, как обсуждать менее простые для понимания аморфные полупроводниковые соединения, мы для начала рассмотрим Si и Ge [3].
Уважаемый посетитель!
Чтобы распечатать файл, скачайте его (в формате Word).
Ссылка на скачивание - внизу страницы.