QП = ±П1,2 ⋅ I ⋅t , где I – проходящий ток, t – время.
Максимальный перепад между температурой холодного Tх и горячего Tг спая
Tг −Tх = ∆Tmax = 0,5⋅ Z ⋅Tг2 .
ЭДС Холла связана с индукцией магнитного поля B соотношением
Uz = Rх ⋅ I ⋅ Bh , где Rх - коэффициент Холла, I – ток через датчик, h – толщина датчика.
Коэффициент Холла для дырочного полупроводника является функцией заряда носителей тока q и их концентрации p
Rх =1(q⋅ p).
Связь удельной электропроводности σполупроводника с подвижностью носителей µ
σ= q⋅ p⋅µ.
Направление вектора суммарного электрического поля (EΣ = E + Eх) r r r
вEr датчике на угол Холла Холла отличается ϕ, который от определяют направления по внешнего формуле электрического поля r tgϕ= EхE = µ⋅ B , где Eх – вектор холловского электрического поля.
Пример 12. Термистор из собственного кремния имеет сопротивление
R1= 600 Ом при T = 300 К. Вычислить его сопротивление при T = 325 К, предполагая, что ширина запрещенной зоны для кремния ∆Wз = 1,12 эВ и что подвижности носителей µp и µn заметно не изменяются в этом интервале температур.
Собственная удельная проводимость материала σi = ni ⋅q⋅(µn +µp ), где ni - собственная концентрация носителей, а µn и µp - подвижность электронов и дырок. Если подвижности остаются постоянными, то ni - только один параметр, меняющийся с температурой T по экспоненциальному закону
ni = N ⋅exp(− ∆Wз(2kT)), где N – некая постоянная. Следовательно, удельное сопротивление, а также сопротивление R изменяются как ni−1, или
R = C ⋅exp(∆Wз(2kT)).
При T = 300 К
600 = C ⋅exp= C ⋅exp(21,3).
Аналогично при T = 325 К
R2 = C ⋅exp(1,12⋅1,62⋅10−19 (2⋅1,38⋅10−23 ⋅325))= C ⋅exp(19,6). Разделив (3) на (4), получим:
600R2 = exp(21,3−19,6), откуда R2 ≈110 Ом.
Пример 13. Кристалл полупроводника имеет коэффициент Холла Rх = 5⋅10−4 м3/Кл и удельное сопротивление ρ= 7,2⋅10−3Ом⋅ м. Для обнаружения эффекта Холла кристалл помещается в магнитное поле с индукцией B = 1 Тл. Определить угол Холла.
Связь удельной электропроводности полупроводника σ=1ρ с подвижностью носителей σ= q⋅ p⋅µ позволяет определить подвижность носителей
µ=σ(q ⋅ p) = 1(ρ⋅q ⋅ p) = Rхρ.
Используя зависимость для угла Холла tgϕ= EхE = µ⋅ B , находим ϕ= arctg(µ⋅ B) = arctg(Rх ⋅ Bρ) = arctg(5⋅10−4 ⋅17,2⋅10−3)= 0,0693рад = 3,97град .
1. Собственные и примесные полупроводники. Уровень Ферми. Связь концентраций носителей, их зависимость от температуры.
2. Диффузия и дрейф носителей. Подвижность, коэффициент диффузии, время жизни, диффузионная длина, зависимость их от температуры.
3. Полупроводники в сильных электрических полях. Ударная ионизация, туннелирование, рассеяние носителей, междолинный переход.
4. P-n-переход в равновесном и неравновесном состоянии. Энергетическая диаграмма, ширина и высота потенциального барьера, их зависимость от температуры, напряжения, свойств полупроводника.
5. Ёмкости p-n-перехода, их влияние на работу диодов и транзисторов. Вольт-фарадная характеристика p-n-перехода.
6. Виды пробоев p-n-перехода. Зависимость от температуры.
7. ВАХ p-n-перехода. Влияние температуры, свойств полупроводника.
8. ВАХ реального диода, отличие от ВАХ идеального p-n-перехода.
9. Контакт полупроводников с одним типом проводимости.
10. Переход металл - полупроводник. Свойства, применение.
11. Выпрямительные диоды. ВАХ, применение.
12. Стабилитроны, стабисторы. ВАХ, применение.
13. Туннельный диод. Принцип работы, ВАХ, применение.
14. Обращенный диод. Принцип работы, ВАХ, применение.
15. Варикапы. Вольт-фарадная характеристика, эквивалентные схемы.
16. Импульсные и высокочастотные диоды. Временные диаграммы токов, уменьшение времени восстановления обратного сопротивления.
Уважаемый посетитель!
Чтобы распечатать файл, скачайте его (в формате Word).
Ссылка на скачивание - внизу страницы.