Термодинамические характеристики малой капли в рамках метода функционала плотности, страница 6

Зависимость поверхностного натяжения бе для эквимолекулярной разделяющей поверхности от ее радиуса кривизны представлена на рис. 6. Видим, что с ростом R * поверхностное натяжение сперва быстро возрастает, проходит через максимум, а затем медленно убывает. Таким образом, имеется немонотонность в поведении , сходная с той, что наблюдалась в зависимости плотности и давления в центре капли от ее размера. Величина, стоящая в квадратных скобках в формуле (4.12), представляет собой общее термо-

1

 2

2.5

2.0

1.5

1.0

0.5 о             5             10           15           20           25

Рис. 6. Зависимость поверхностного натяхщния для эквимолекулярной разделяющей поверхности от ее радиуса R * . — потенциал Юкавы, Т = 0.40Тс; 2 — потенциал Леннард-Джонса. Т = 0.51 Тс; горизонтальные линии показывают значения о00

динамическое определение поверхностного натяжения для произвольной разделяющей сферической поверхности радиуса R. Применение этого определения в случае R = Щ, где Rs — радиус поверхности натяжения, определяет величину поверхностного натяжения 6s для поверхности натяжения. Как следует из (4.12), величины бе и 6s связаны соотношением [17]

              (4.1 З)

Для больших капель зависимость 0$ от Щ, с точностью до членов первого порядка по малой кривизне, определяется формулой Толмена 0$ = 0х(1 — 2600/Rs) (600 = lim ( Rе — Щ) — длина Толмена в пределе квазиплоской поверхности). Из формулы (4.13) следует, что различия между ое и 0s проявляются во втором порядке по малому параметру 600/Rs, поэтому для асимптотики 0e(Re) в квазиплоском приближении можно записать выражение ое = —26-/Re).     (4.14)

 Из рис. 6 видно, что кривые зависимости

( R * ) достигают асимптотического значения о! сверху для обоих потенциалов, хотя сами отклонения от в пределе больших невелики. Это означает, что длина Толмена, определенная в рамках метода функционала плотности, оказываКОЛЛОИДНЫЙ


TEPMOIIHHAMHHECKHE XAPAKTEPHCTHKH MAJIOM KAIIJIH


eTcq MaJIOÜ no a6COJThOTHOMY 3HaqeHIÐ0 orrpliuaTenbHOü BeJIHHHHOñ. IlocneAHHÜ pe3YJ1bTaT 6b1J1 noJlyqeH paHee B paMKax MeTOAa (þYHK11H0Ha.na n.nOTHOcrn norreHIV1aJ1a JIeHHapA-A>K0Hca B [5, 18] H3 Apyrnx c006paxeHHü.

Pa60rra Bb1110JIHeHa         nonnepxKe POCCHÜCKOTO uccneAOBaHMiá (rpaHT 96-02-18959).

cr1HCOK JIUTEPATYPb1

l. POYJIUHCOH Z*.C., Buòo.M b. MoneKYJ1qpHaq rreOP1dH KallHJTJHPHOCTH. M.: MHP, 1986.

2.  Oxtoby D.w, Evans R. // J. Chem. Phys. 1988. V. 89.  12. P. 7521.

3.  zeng X.C., Oxtoby D.W. // J. Chem. Phys. 1991. V. 94.  6.P. 4472.

4.  Hadjiagapiou l. // J. Phys.: Condens. Matter. 1994. V. 6. P. 5303.

5.  Talanquer V., Oxtoby D.W. // J. Phys. Chem. 1995. V. 99. 9. P. 2865.          

6.  Laaksonen A., McGraw R. // Europhys. Lett. 1996. V. 35.

5. P. 367.

KOJIJIOH11Hb1ÿf XYPHAJI              TOM 611999

7.  McGraw R., Laaksonen A. // J. Chem. Phys. 1997. V. 106. 12. P. 5284.

8.  Evans R. In: Fundamentals of inhomogeneous fluids, ed. D. Henderson. Wiley, 1992.

9.  t Carnahan NF., Starling K.E. // J. Chem. Phys. 1969. V. 51. 1. P. 635.

10.  Weeks J.D., Chandler D. , Andersen H.C. // J. Chem. Phys. 1996. 12. V. 54. P. 5237.

l l . Kuni F.M., Shchekin A.K., Rusanov Al., Widom B. // Adv. Colloid Interface Sci. 1996. V. 65. P. 71.

12.  KYHu Ø.M., A.K., PycaH0B A.H. // K0JIJ10HA. xypH. 1993. T. 45. 4. C. 682.

13.  Falls A.N., Scriven L.E., Davis H.T. // J. Chem. Phys. 1981. V. 75. 8. P. 3986.

14.  Thompson S M., Gubbins K.E., Walton J.P.R.B. et al. // J. Chem. Phys. 1984. V. 81. I.P. 530.

15.  RasmÛssen D.H. // J. Crystal Growth. 1982. V. 56. 1. P. 45.

16.  Hale B.N. // Phys. Rev. A: Gen. Pys. 1986. V. 33. 6. P. 4156.

17.  OHO C, K0HÒo C. MoneKYJ1qpHaq TeopHfl 110BepxH0CTHOTO Harrfl*CHHfl B XHAKOCTHX. HJI, 1963.

18.  van Giessen A.E., Blokhuis E.M., Bukman DJ. // J. Chem. Phys. 1998. V. 108. P. 1148.