Исследование зависимости емкости варикапа и добротности измерительного колебательного контура от управляющего напряжения на варикапе

Санкт-Петербургский государственный университет аэрокосмического приборостроения

Рейтинг за работу

Преподаватель           

Отчёт по лабораторной работе №11

по курсу физические основы микроэлектроники

«Исследование варикапа»

Работу выполнил                       студент группы 1444 кс

Разухин И.В.

Санкт-Петербург

2006

1. Цель работы:Исследовать зависимость емкости варикапа и добротности измерительного колебательного контура от управляющего напряжения на варикапе.

2. Перечень применяемых приборов.

     В состав лабораторной установки входят:

1. Измеритель добротности Q-метр Е4-11 (1) с образцовой катушкой индуктивности (2); инструкция по работе с Q-метром находится на рабочем месте;

2.  Источник питания постоянного тока Б5-45 (3);

3.  Лабораторный макет (4), конструктивно оформленный в виде кассеты из оргстекла с двумя парами выводов 1-2 и 3-4 для подключения к клеммам С_х (рис.16) параллельно измерительномуконденсатору Q-метра.  Кроме того, к клеммам С_х постоянно подключен добавочныйконденсатор   Сдоб.=100 пФ, рис.1б. Электрическая схема макета приведена на рис.2а и 26; КВ110А - исследуемый варикап. Если пренебречь влиянием разделительных конденсаторов (5600 пФ), то, в частности, при подключении макета контактными выводами   1-2   емкость измерительного контура С_к будет равна емкости Q измерительного конденсатор Q-метра плюс
100 пФ (рис.1б, 2а)

3. Электрическая схема.

4. Результаты измерений и вычислений.

U, в	Uo = 0,8 U, В	С2,пФ	Q	Св =С1-С2,пФ
4	3,2	80,8	130	18,5
5	4	82,8	150	16,5
7,5	6	86,2	164	13,1
15	12	90	169	9,3
30	24	92,7	171	6,6
50	40	94,1	172	5,2

С,пФ	CK=(C1+100), пФ	г,МГц
99,3	199,3	32

K_пер= С_В1/С_В2

K_пер = 18,5/5,2 = 3,56

5. Графики.