В приближении слабого поля при
расчете энергетических уровней исходят из термов свободного иона с учетом их
мультиплетной структуры. При этом оказывается, что штарковские уровни
группируются около положений, совпадающих с положение уровней свободного иона
(рис. 6). Т.е. уровни свободного иона оказываются просто расщепленными в
результате эффекта Штарка, а сама величина расщепления меньше мультиплетного
расщепления. В несовершенных кристаллических матрицах это приводит просто к
уширению спектральных линий примесного иона относительно линий свободного иона.
В любом случае общий характер положения энергетических уровней этих ионов в
разных кристаллических полях изменяется незначительно. Наглядным примером этому
является ион Nd3+. Длина волны линии
лазерной генерации l=1,06 мкм,
возникающая на оптическом переходе f-электронов
этого иона, практически не изменяется при помещении иона в кристалл
иттрий-алюминиевого граната или в фосфатное стекло.
Случай сильного поля реализуется для ионов 4d и 5d элементов – группы палладия и платины. Для этих ионов штарковское расщепление превышает мультиплетное, при этом разрывается связь между спиновыми и орбитальными моментами электронов. Положение и структура энергетических уровней таких ионов, как примесных в кристаллах, сильно отличается от энергетической структуры свободных ионов. В данном случае расчет структуры уровней проводится индивидуально для каждого элемента в конкретной кристаллической матрице.
Для 3d ионов и некоторых ионов редкоземельных элементов: Ce3+, Eu2+ и Yb2+, имеющих оптически активные 5d электроны, реализуется случай промежуточного поля: Vee » Vcr. Для нахождения структуры их энергетических уровней последовательно применяют два приближения теории возмущения. В первом приближении не учитывается мультиплетное расщепление, а учитывается только возмущающее действие кристаллического поля. Во втором приближении влияние кристаллического поля распространяют на мультиплетную структуру.
Без учета мультиплетности в
свободных ионах d-электроны располагаются на пяти
вырожденных d-орбиталях: (рис.7),
имеющих одинаковую энергию.
Рис.7. Распределение электронной плотности на d-орбиталях.
В поле лигандов они расщепляются на две группы: одна t2g, в которую
входят орбитали dxy, dzx и dzy,
и вторая eg, в которую входят орбитали (рис.8).
Рис.8. Расщепление d-орбиталей в кристаллическом поле.
Если это возможно, то на каждой орбитале электроны располагаются по одиночке – неспаренные электроны, подчиняясь правилу Гунда. Если же электронов больше трех и тем более больше пяти, то они располагаются попарно с разно направленными спинами в соответствии с принципом Паули.
В поле октаэдрической
симметрии (к.ч. равно 6) орбитали свободного иона,
расположенные вдоль осей координат и образующие eg
орбиталь примесного иона, попадают под сильное влияние электростатического поля
лигандов (рис.9). В результате этого их энергия значительно повышается (рис.8).
Для такой симметрии орбитали dxy, dzx и dzy,
расположенные между осями координат и образующие t2g орбиталь, в меньшей степени подвержены влиянию
кристаллического поля. Поэтому энергия t2g орбитали оказывается ниже энергии eg
орбитали. В полях кубической (к.ч.=8) и тетраэдрической (к.ч.=4) симметрий
картина расщеплений будет обратной. В этих случаях лиганды, расположенные в
вершинах куба, оказывают большее влияние на t2g орбиналь, нежели на eg
орбиталь (рис.8).
Рис. 9. Расположение d-орбиталей относительно октаэдрически симметричных лигандов
С энергетической точки зрения первоначально вырожденный уровень свободного иона (без учета мультиплетного расщепления) в кристаллическом поле расщепляется на орбитальный триплет t2g и орбитальный дублет eg. Энергетическое расстояние между ними обозначают как 10Dq или D. По отношению к положению орбиталей свободного иона t2g-орбиталь примесного иона расположена на величину, равную 4Dq, ниже в октаэдрическом поле и выше в тетраэдрическом и кубическом полях. А eg-орбиталь – выше (ниже) на величину 6Dq (рис.8). Сама величина 10Dq или D называется силой кристаллического поля и служит основным параметром расщепления d-уровней всех электронных конфигураций в полях кубической, тетраэдрической и октаэдрической симметрий. Величина D зависит от типа и валентности лигандов, от заряда примесного иона, от длины валентной связи и от симметрии кристаллического поля. Для кубических и тетраэдрических комплексов расщепление уровней обратно октаэдрическому и меньше его:
Уважаемый посетитель!
Чтобы распечатать файл, скачайте его (в формате Word).
Ссылка на скачивание - внизу страницы.