Оформление результатов наблюдений и вычислений в отчетной инженерной технической документации. Получение навыков поиска неисправных элементов аналоговой электронной схемы методом структурной диагностики на автоматизированном рабочем месте (АРМ) с анализом схемы

Страницы работы

Содержание работы

Министерство общего и профессионального

образования Российской Федерации

Новосибирский Государственный

Технический Университет

Кафедра Автоматики

Лабораторная работа №2.

Оформление результатов наблюдений и вычислений в отчетной инженерной технической документации.

Вариант №2.

Группа: АА-06                                                                            Преподаватель:

Студент: Веселков А.П.                                                              Кондратьев В.А

Дата сдачи:    …………………………………

Отметка о сдаче:   …………….………………

Новосибирск 2003

Цель работы: получение навыков поиска неисправных элементов аналоговой электронной схемы методом структурной диагностики на автоматизированном рабочем месте (АРМ)  с анализом схемы, составлением ее функционально-диагностической матрицы (ФДМ)  при использовании возможностей имитации различных неисправностей путём моделирования, и поиска  неисправных элементов схемы на основе расчета вероятностей их отсутствия, рассчитанных с использованием ФДМ, интенсивностей отказов предположительно неисправных элементов, а так же времени наработки схемы до отказа.

Поставленные задачи:

1.  анализ схемы, составлением ее функционально-диагностической матрицы (ФДМ) при использовании возможностей имитации различных неисправностей путем моделирования.

2.  поиск неисправных элементов схемы на основе расчета вероятностей их отсутствия,      рассчитанных с использованием ФДМ, интенсивностей отказов предположительно неисправных элементов, а также времени наработки схемы до отказа.

Исходные данные:

1.  структурная схема (рис.1);

2.  время наработки до отказа – 10000 часов;

Усредненные значения интенсивностей отказов элементов представлены в табл.1

                    Табл. 1.

Усредненные значения интенсивностей отказов элементов.

Элементы схемы

Интенсивность отказов l*10-6 1/ч

VT, DA

2,5

Резисторы МЛТ

0,5

Ход работы.

1. Cоставляем функционально-диагностическую матрицу (ФДМ), отмечаем элементы, влияющие на работу схемы (рис.1) и имеющие наибольшую вероятность выхода из строя (ОУ, транзисторы, резисторы), отмечаются КТ схемы, имитируется одиночная неисправность каждого из элементов. На основе анализа влияния возможных неисправностей на потенциалы в КТ схемы составляем ее ФДМ. При этом единицу ставим в тот столбец, где влияние неисправного элемента отразится на потенциале КТ по постоянному и переменному токам. В обратном случае ставим 0. Следует учитывать только отказы, обусловленные разрывом или замыканием цепи. Результаты эксперимента представим в табл. 2.

                                                                                                                               Табл. 2.

Результаты эксперимента.

Неисправ-ности

Изменение потенциала в контрольных точках
V1
V2
V3
V4
V5
V6
V7
V8
V9

Обрыв R1

1

1

1

1

1

1

1

1

1

Обрыв R2

1

1

1

1

1

1

1

1

1

Обрыв R3

1

1

1

0

1

0

1

1

1

Обрыв R4

1

0

1

0

1

1

1

0

1

Обрыв R5

1

1

1

1

1

1

1

1

1

Обрыв R6

1

1

1

1

1

1

1

1

1

Обрыв R7

0

0

1

1

1

0

1

0

1

Обрыв R8

1

1

1

1

1

0

1

1

1

Обрыв R9

1

1

1

1

1

1

1

1

1

DA1

1

1

1

1

1

1

1

1

1

VT1

1

1

1

1

1

1

1

1

1

VT2

1

1

1

1

1

1

1

1

1

2. Выявление потенциально-неисправного элемента производится с учетом расчета «байесовского риска» – вероятность отсутствия предполагаемой неисправности в схеме при имеющемся векторе в ФДМ. Расчет проводится в прикладной программе Gserver. Результат в табл. 3.

                                                                                                                    Табл. 3.

Результат расчёта «байесовского риска».

Возможные неисправности

Апостериорная вероятность

DA1

0,993794

VT1

0,992107

VT2

0,988267

R1

0,999226

R2

0,999128

R3

0,997402

R4

0,995613

R5

0,998990

R6

0,998779

R7

0,975839

R8

0,998088

R9

0,998434

Последовательность действий оператора на АРМ:

1.  По реальной схеме составить список потенциально неисправных элементов и контрольных точек, в которых возможно исследовать поведение схемы;

2.  Смоделировать объект исследования, отдельно выделив контрольные точки;

3.  Применить метод структурно-функциональной диагностики:

а)  провести эксперимент и составить ФДМ;

б)  с помощью прикладных программ рассчитать апостериорные вероятности;

в)  определить наиболее вероятно отказавшие элементы схемы из списка п.1;

4.  Проверить полученные результаты.

5.  Сделать выводы о возможных причинах неисправности элемента или группы элементов.

6.  Оформить протокол или отчет и внести результаты работы в базу данных.

Выводы.

Персональный компьютер даёт возможность имитировать работу схемы в целом, при возникновении каких-либо неисправностей.

Метод структурно-функциональной диагностики применяется при относительно небольшом количестве потенциально отказавших элементов.  В схемах с высокой степенью интеграции данный метод практически неприменим. Наибольшую вероятность отказа в работе имеют полупроводниковые элементы.

Рис.1 Исследуемая на АРМ схема усилителя переменного тока.

 
Приложение:

Рис. 1. Исследуемая на АРМ схема усилителя переменного тока.

Похожие материалы

Информация о работе

Тип:
Отчеты по лабораторным работам
Размер файла:
593 Kb
Скачали:
0