Фильтрация вторичного излучения, страница 10

Таблица 4.10.

Правильность анализа тантала в растворах

Рис. 4.15 .Градуировка по танталу в тантал-ниобиевых концентратах с использованием вторичного фильтра из Hf эквивалентной толщиной 10 мкм

 Содержание тантала 0,3 – 17 %. Среднеквадратическое отклонение – 0,089 %

Рис. 4.16 Градуировка по танталу в тантал-ниобиевых растворах с использованием вторичного фильтра из Hf эквивалентной толщиной 10 мкм

 Содержание тантала 0,5 -1,5 г/л. Среднеквадратическое отклонение – 0,020 %

Результаты измерений, приведенные в таблицах, наглядно показывают, что применение фильтрации вторичного излучения с использованием L-скачка поглощения фильтра из гафния толщиной 10 мкм расположенного между анализируемой и мешающей линиями дает возможность значительно (в два раза и более) повысить точность анализа.

Таким образом, применение вторичной фильтрации тонкими фильтрами позволяет повысить аналитические характеристики энергодисперсионных анализаторов в локальном энергетическом диапазоне.

Вместе с тем, применение тонкого фильтра вторичного излучении для повышения точности анализа тантала не снижает точность анализа ниобия – другого элемента, анализ которого также необходим в технологическом процессе.

На рис. 4.19 и 4.20 представлены градировочные зависимости для ниобия в растворах, построенные одновременно с построением градировочных зависимостей по танталу.

В процессе градуировки каждый образец, участвовавший в ее построении, измерялся только один раз, и для анализа тантала и для анализа ниобия одновременно, и применение вторичной фильтрации в области аналитической лини TaLb практически не мешало регистрации аналитической линии NbKa.