Главная цель тестового диагностирования – КТС, поиск места и причин отказа. Если объект неремонтопригоден (БИС, СБИС), то осуществляют контроль исправности. Тестовое диагностирование предполагает подачу на устройство специальных проверяющих воздействий (тестов), позволяющих по его выходным сигналам путем сравнения с заранее известными эталонами выявить заданный класс неисправностей в этом устройстве. Тесты делятся на проверяющие и тесты поиска дефектов.
Для проведения тестового диагностирования объект переводят из рабочего режима в специальный вспомогательные режимы, не связанные с функциональным назначением устройства, но связанные с выявлением отказа. Тестовое диагностирование осуществляется с помощью внешних средств, которые обеспечивают формирование и выдачу некоторого множества наборов. На основании их анализа, путем сравнения с эталонными значениями, определяется результат. В соответствие с этим внешние устройства имеют блок формирования тестовых воздействий и блок ПАР. Неисправности объекта проявляются в виде искажения выходного наборов. Формируемые средствами тестового диагностирования тестовые воздействия должны обеспечить при КТС объекта проявление любой из рассматриваемых неисправностей хотя бы один раз. При поиске места неисправности различные неисправности должны проявляться по-разному. В первом случае – контролирующий, во втором – диагностический. Процедуры тестового диагностирования:
· генерация тестовых воздействий (нахождение множества тестовых входных наборов и ожидаемых реакций устройства, обеспечивающих покрытие неисправностей из заданного списка)
· оценка эффективности (количественное определение степени обнаружения множеством тестовых воздействий заданного списка неисправностей)
· реализация тестового диагностирования (физический процесс тестового диагностирования реальной схемы)
Чем выше значение управляемости и наблюдаемости схемы, тем проще обеспечить выявление неисправности.
Использование элементов памяти и цепей ОС усложняет управление схемой и наблюдение за ее поведением. Эффективность тестов оценивают по заданному списку неисправностей. Строится модель схемы и анализируется ее поведение с помощью тестовых наборов как в исправном, так и в неисправном состоянии. Неисправности из заданного списка вводятся в модель и оцениваются с помощью тестовых наборов. Особенно трудна проблема поиска неисправности в схеме с глобальной ОС. Сложность доступа к контрольной точке может затруднить диагностирование. Увеличение сложности цифрового устройства (БИС и СБИС) ведет к увеличению длины тестовых последовательностей. Следовательно увеличиваются аппаратные затраты. Методы тестового диагностирования получили широкое распространение особенно на этапе изготовления оборудования. Однако в процессе интеграции их эффективность резко снижается из– за двух проблем: сложность генерирования и верификации тестов. Установлено опытным путем, что машинное время для генерации тестов и моделирования неисправностей ( - время моделирования, - число неисправностей, - число вентилей). Необходимость перевода устройства в специальный режим, а также извлечение блоков – существенный недостаток. Повышение тестопригодности устройств осуществляется следующими группами методов:
1) методы специального проектирования
2) методы структурного проектирования
3) специальные методы
Сигнатурный анализ
Используется для написания метода тестового диагностирования, основанного на анализе сигнатур схемы. Единственное отличие сигнатурного анализа от рассмотренного ранее тестового диагностирования – нет необходимости хранить все реакции эталонного образца на тестовые воздействия.
Линейные последовательностные схемы – схемы, реализуемые на регистрах сдвига и осуществляющие операцию деления на многочлен, называемый характеристическим
- частное от деления на
– остаток
Сигнатурный анализатор, реализующий деление на , обнаруживает любую одиночную ошибку и двойную в двоичной последовательности длины меньше . Многочлен должен быть примитивным и неприводимым.
Уважаемый посетитель!
Чтобы распечатать файл, скачайте его (в формате Word).
Ссылка на скачивание - внизу страницы.