Определение коэффициента магнитосопротивления, исследование зависимости подвижности носителей заряда от температуры, страница 7

4. Определить удельную проводимость образца в отсутствии магнитного поля:

σ0=ℓ/(R0S),

где S=d·x=10-5 м2, ℓ=0,02 м.

5. Определить холловскую подвижность μH основных носителей заряда и ее дисперсию sμH при комнатной температуре:

μH=RH·σ0,

6. По данным табл.3 построить зависимость холловского напряжения UH от абсолютной температуры. По наличию смены знака UH определить тип основных носителей заряда. Найти температуру перекомпенсации.

7. По данным табл.5 рассчитать и построить зависимость логарифма проводимости ln(σ) от обратной температуры 1/T:

σ=1/ρ=(I·x)/(Uобр·d·ℓ),

где I=30 мА, d=10-3 м, ℓ=0,02 м,  x=0,01 м.

 


По наклону графика определить ширину запрещенной зоны Eg образца:

Eg=2k·tg(β),

где k – постоянная Больцмана.

8. Этот пункт выполняется только в случае образцов n-типа. Рассчитать и построить зависимость холловской подвижности от температуры:

μH=RH·σ

Сравнить с зависимостью μH ~ T-3/2., соответствующей рассеянию носителей заряда на колебаниях кристаллической решетки.

9. По данным табл.4 рассчитать сопротивление образца в присутствии магнитного поля RВ=Uобр/I. Построить график зависимости относительного изменения сопротивления |(RB-R0)/R0| от B2.

 


По наклону линии найти коэффициент магнитосопротивления:  К=tg(α).