3. Присвоить отражающим плоскостям миллеровские индексы посредством табл.4.
5. Рассчитать по формуле (2) параметр кристаллической решетки по всем линиям рентгенограммы (l = 0,154 нм). За истинное значение параметра решетки принять среднее арифметическое значение. Рассчитать абсолютную и относительную погрешности эксперимента как для косвенных невоспроизводимых измерений.
Примечание: рентгеноструктурный анализ позволяет рассчитывать параметр решетки с относительной точностью не более 2 %, поэтому при получении экспериментальной относительной погрешности, большей 2 %, следует провести проверку расчетов табл. 6.
Таблица 6
№ линии |
2q |
q |
Sinq |
Sin2q |
Bi |
(HKL) |
а, нм |
<а>, нм |
Dаi, нм |
Dа, нм |
e, % |
1 |
|||||||||||
2 |
|||||||||||
3 |
|||||||||||
4 |
|||||||||||
5 |
|||||||||||
6 |
6. Сделать вывод: тип решетки - ;
постоянная ячейки аэксп. = ( ± ) нм,
e = %.
7. Сравнить среднее значение параметра элементарной ячейки с табличным значением для исследуемого вещества (см. страницу 9). Оценить относительную погрешность отклонения по формуле
.
Контрольные вопросы
1. Что такое анизотропия и каким веществам она присуща?
2. Что такое моно- и поликристалл? Блок мозаики?
3. Какое свойство кристаллов используется при огранке бриллиантов?
4. Какое явление для электромагнитного излучения отражает рентгенограмма? Записать закон Вульфа-Брэггов.
5. Что такое кристаллическая решётка? Кристаллическая ячейка?
6. Что такое решётки Браве?
7. Перечислить все семь сингоний кристаллических решёток.
8. Как заполнены атомами кубические кристаллические ячейки?
9. Нарисовать в кубической ячейке плоскости с миллеровскими индексами (100), (110) и (111).
10. Что означает фраза «индецирование рентгенограммы»?
11. В чём заключается рентгеновский метод определения постоянной кристаллической ячейки.
Библиографический список
1. Савельев И.В. Курс общей физики. М.: Наука,1979. Т. 3
2. Трофимова Т.И. Курс физики. М.: Высшая школа, 1997. - 542 с.
3. Епифанов Г.И. Физика твердого тела. М.: Высш. школа, 1977. -288 с.
4. Бушманов Б.Н., Хромов Ю.А. Физика твердого тела. М.: Высш. школа, 1971. - 224 с.
5. Горелик С. С., Расторгуев Л. Н., Скаков Ю. А. Рентгеновский и электронно-оптический анализ. М.: Металлургия, 1970. - 368 с.
6. Горелик С. С., Расторгуев Л. Н., Скаков Ю. А. Рентгеновский и электронно-оптический анализ. Приложения. М.: Металлургия, 1970. - 107 с.
7. Калистратова Л.Ф., Калистратова Н.П., Рубан Н.В. Основы физики твёрдого тела: Учеб. Пособие. Омск : Изд-во ОмГТУ, 2005. – 84 с.
Табличные значения
параметров кристаллической ячейки некоторых простых веществ
Вещество |
Постоянная ячейки, нм |
Алюминий |
0,405 |
Медь |
0,361 |
Никель |
0,352 |
Железо |
0,362 |
Хлористый натрий |
0,564 |
Приложение
Внешний вид рентгенограмм некоторых простых веществ
Рентгенограмма 1
Рентгенограмма 2
Рентгенограмма 3
Уважаемый посетитель!
Чтобы распечатать файл, скачайте его (в формате Word).
Ссылка на скачивание - внизу страницы.