Первой, наиболее важной особенностью является принцип групповой обработки, когда одновременной обработке подвергаются несколько подложек (десятки, сотни), на каждой из которых находится большое число (до несколько сотен) микросхем. Обработка партий изделий в одинаковых условиях позволяет повысить воспроизводимость их параметров, увеличить производительность операций и снизить стоимость продукции.
Второй особенностью интегральной технологии, вытекающей из принципа групповой обработки, является универсальность методов. Она заключается в том, что для создания различных элементов ИС применяются одинаковые по физической природе и режимам процессы.
Третья особенность производства ИС – совместимость операций – связана с наличием в технологическом процессе многократно повторяющихся комплексов операций. Неизменность уже созданных структур при последующих технологических операциях должна обеспечить согласованность методов и режимов обработки на всем маршруте создания микроструктуры.
Основными технологическими направлениями, позволяющими формировать микроструктуры ИС, являются гибридно-пленочное и полупроводниковое. В гибридных ИС на диэлектрической подложке путем нанесения различных пленок создаются пассивные элементы схем (в основном резисторы R и конденсаторы С) и соединения между ними, а активные элементы АЭ (диоды, транзисторы, полупроводниковые ИС) устанавливаются посредством навесного монтажа. В некоторых случаях в качестве навесных элементов используют и пассивные элементы – резисторы и конденсаторы. Гибридная технология может быть реализована в двух вариантах: тонкопленочном и толстопленочном.
В тонкопленочной технологии пассивные элементы схем обычно получают путем нанесения слоев в вакууме: либо с помощью термовакуумного испарения, либо ионным распылением материалов. Технологический маршрут изготовления гибридных тонкопленочных ИС определяется методикой формирования рисунка функциональных слоев. Конфигурация резистивных, проводящих и диэлектрических слоев может быть получена с применением свободной и контактной масок или фотолитографией. Для получения отдельных слоев со специальными свойствами (диэлектрик с высокой удельной емкостью, толстый проводящий слой и др.) наряду с осаждением в вакууме применяют электрохимический, химический и другие методы получения слоев.
В гибридных толстопленочных ИС пассивные элементы схем и межсоединения получают путем последовательного нанесения на поверхность подложек различных функциональных паст, затем проводят их сушку и вжигание для придания необходимых электрофизических свойств и закрепления на подложке. Рисунок элементов ИС обычно получают путем нанесения паст через сетчатые трафареты.
В полупроводниковых ИС реализуются и активные и пассивные элементы, они создаются как в объеме подложки - полупроводника, так и на ее поверхности. Основными процессами при создании элементов являются эпитаксия, диффузия, имплантация, пассивация, осаждение слоев в вакууме и литография. Полупроводниковые ИС имеют более высокую по сравнению с гибридными ИС степень интеграции и меньшие размеры элементов, конфигурацию которых выполняют фотолитографией, рентгено-, электроно- и ионолитографией, обеспечивающими получение субмикронных размеров.
По типу активных элементов (транзисторов) полупроводниковые ИС подразделяются на биполярные и полевые на МДП-структурах (металл-диэлектрик-полупроводник). В отличие от гибридных в полупроводниковых ИС серьезной проблемой является создание изоляции элементов, которая может быть выполнена р-n-переходами, смещенными в обратном направлении, с помощью воздушных промежутков и диэлектрических материалов. Тип активного прибора и метод изоляции являются определяющими факторами для разработки технологического процесса формирования полупроводниковых микроструктур.
Схема типового технологического процесса изготовления полупроводниковой ИС.
Уважаемый посетитель!
Чтобы распечатать файл, скачайте его (в формате Word).
Ссылка на скачивание - внизу страницы.