Підкладка виготовляється із ситалу СТ50-1. Розрізання ситалу, здійснюється методом скрайбування. Ситал легко розрізаються алмазом.
Навісні компоненти закріплюються на платах ГІС за допомогою спеціальних клеїв, смол, компаундів та поступового створення з’єднань їх виводів з контактними площадками шляхом термокомпресії, пайки чи зварювання.
Застосовується два способи захисту плівкових інтегральних мікросхем від впливу зовнішніх чинників і від механічних пошкоджень: без корпусний захист (герметизація компаундами) і корпусний захист (герметизація за допомогою твердих корпусів різного типу). Корпусний захист рекомендується застосовувати при тривалій (більш ніж десять діб) експлуатації мікросхем в умовах підвищеної вологості. Корпус повинен мати достатню механічну міцність, малу масу і габарити, надійну електричну ізоляцію. Крім того, всередині нього слід підтримувати достатньо стабільні температурні умови.
При монтажі у металоскляному, металокерамічному, метало - полімерному або пластмасовому корпусі плата приклеюється до основи корпуса клеями, смолами чи компаундами. З’єднання зовнішніх контактних площадок з виводами корпусу здійснюється, зварюванням чи пайкою.
Корпус герметизується за допомогою вакуумної заливки, листового пресування або склеювання.
7 Тепловий розрахунок мікросхеми
Для проведення розрахунку теплового режиму мікросхеми мають бути відомі наступні початкові дані: тип конструкції мікросхеми, для якої ведеться розрахунок; товщина підкладки м; коефіцієнт теплопровідності підкладки , Вт/(м град); температура корпуса мікросхеми , 0С; максимально допустима температура плівкових резисторів tR max доп, 0С; максимально допустима температура плівкових конденсаторів tС max доп, 0С; максимально допустима температура навісних компонентів tН max доп, 0С.
Розрахунок розпочинають з вибору типу корпусу, для корпуса зображеного І типу визначимо тепловий опір rt [8].
Для корпусу конструкції І типу:
(7.1)
(7.2)
де = 10-3м – товщина плати ,
Вт/м с – коефіцієнт теплопровідності плати
м2 с/Вт
Розрахуємо максимальну питому потужність розсіювання Р0’ на поверхні підкладки при будь – якому розміщенні на ній тепловідводних елементів:
, (7.3)
де =1250С – максимально допустима температура навісних елементів ,
= 600С – температура корпуса
, (7.4)
де - потужність, розсіювання навісних елементів ,
- ширина навісного компонента,
- довжина навісного компонента,
- внутрішній тепловий опір навісного компонента
Аналізуючи схему розраховуємо для транзисторів,
тоді задаємось = 0.016 Вт
= 10-3 , = 10-3, = 20 0С/Вт
0С,
тоді (кВт/м2).
Визначаємо максимально можливі температури елементів:
Для плівкових елементів:
tR max = tk + rt (P0 + PHmax), (7.5)
де PHmax – потужність навісних резисторів
PHmax =125, тому, що навісних резисторів не має
tR max = 60 + (110860+125) =1100C.
Для плівкових конденсаторів:
tС max = tk + 0.5 rt ( P0+ PHmax ) , (7.6)
тоді підставивши дані отримаємо:
tС max =60+ =850C.
Для навісних конденсаторів:
tС н max = tk + rt P0 + , (7.7)
тоді підставимо дані і отримаємо:
tС н max = 60+ + =1250C.
Для плівкових індуктивностей:
tL max = tk + 0.5 rt ( P0+ PHmax ) (7.8)
тоді підставивши дані отримаємо:
tL max =60+ =850C.
Для навісного без корпусного транзистора:
tТ н max = tk + rt P0 +
тоді підставивши дані отримаємо:
tТ н max =60+ =1250C.
Уважаемый посетитель!
Чтобы распечатать файл, скачайте его (в формате Word).
Ссылка на скачивание - внизу страницы.