Однако применение вторичных мишеней, приводящее к значительному снижению светосилы рентгенооптической схемы, ведет к необходимости использовать более мощный источник первичного излучения, что зачастую ведет к увеличению массогабаритных показателей прибора и его стоимости, а также к усложнению эксплуатации (необходимость водяного охлаждения анода рентгеновской трубки).
Кроме варьирования спектра первичного излучения, в качестве метода, позволяющего значительно повышать аналитические свойства спектрометра, в бескристальных приборах с пропорциональными детекторами ранее использовались селективные фильтры, позволяющие вырезать из спектра вторичного излучения определенный участок, и селективные фильтры вторичного излучения в сочетании с вторичными излучателями (метод дифференциальных детекторов).
Наряду с фильтрацией вторичного излучения дифференциальный детектор позволяет значительно (на порядок и более) уменьшить эффект наложения линий соседних элементов на линию анализируемого элемента, что ведет к повышению точности анализа и уменьшению влияния пере-менного состава матрицы на результаты анализа. Использование вторичных излучателей описано в литературе (например, [2, 3, 78]) и применяется в рентгеновской аппаратуре (например, отечественные приборы КРАБ-2, БАРС-3 и др.), предназначенной для анализа объектов сравнительно простого состава. Однако в указанных приборах применение селективных фильтров или дифференциального детектора позволяет лишь «вырезать» определенный участок спектра, соответствующий определенной аналитической линии. При использовании таких методов теряется информация об остальной части спектра, в результате чего нельзя одновременно с помощью одного и того же детектора решить задачу более, чем одного элемента.
Как показывает анализ номенклатуры выпускаемых приборов и литературы по этому вопросу, различные способы модификации спектра вторичного излучения используются в бескристальной аппаратуре в основном для «выделения каналов», то есть настройки детектора (чаще всего пропорционального счетчика) на один элемент. В последнее время, в связи с развитием полупроводниковых детекторов рентгеновского излучения и созданием на их базе спектрометров, позволяющих с достаточным энергетическим разрешением снимать спектр во всем диапазоне анализируемых элементов, использование вторичных фильтров в промышленных энергодисперсионных спектрометрах, предназначенных для одновременного определения нескольких элементов, практически не встречается.
Уважаемый посетитель!
Чтобы распечатать файл, скачайте его (в формате Word).
Ссылка на скачивание - внизу страницы.