Методические указания по дисциплине "Теория и практика применения технических средств таможенного контроля", страница 13

Наиболее эффективно можно применять ТСС-3М при решении различных задач поиска подделки в документах в следующих режимах:

1. В отраженных УФ лучах:

- подделка части оттиска печати;

- способ изготовления бланков;

- замена фотографии;

- замена листов;

- следы травления;

- остатки штрихов первоначального текста.

2. В отраженных видимых лучах:

- подчистки, дописки, исправления;

- мелкие детали орнаментов, типографская сетка;

- орловская печать, микрошрифты;

- наложение надписей;

- залитые, зачеркнутые тексты;

- подделка части оттиска печати;

- замена фотографии;

- замена листов.

3. В проходящих видимых или ИК лучах:

- водяные знаки (отсутствие или изменение формы)

- структура материала

- проверка текста под слоем красителя

4. В отраженных ИК лучах:

- наличие зон выполненных специальными красителями

- поврежденные документы (залитые, зачеркнутые фрагменты )

- дописки

- следы травления

- наложение надписей

- подделка части оттиска печати

- частично или полностью обесцвеченный текст.

5. Люминесцентный анализ в видимой области спектра под воздействием ультрафиолетовых лучей:

- дописки;

- специальные метки люминесцирующие в видимой части спектра;

- частично или полностью обесцвеченный текст;

- нарушение последовательности выполнения текста.

6. Люминесцентный анализ в ИК области спектра под воздействием видимых лучей:

- подчистка;

- травление;

- остатки штрихов первоначального текста;

- последовательность выполнения текста.

7. В косо падающем свете:

- водяные знаки;

- способ нанесения оттисков печатей;

- рисование от руки оттисков штампов, печатей;

- рельеф поверхности материала документа в месте подчистки;