Таким образом, приходим к следующему алгоритму определения Y-матриц многополюсников при учете влияния на результаты измерений параметров реальных источников сигнала:
1. Определение значений компонент векторе внутренних сопротивлений источников сигнала Zг= {Zг1,...,Zгi,...,Zгn} и компонент вектора нагрузочных двухполюсников Z = {Z1,..., Zi,..., Zn}.
2. Измерение обычным образом матриц полюсных напряжений Uoи Uи вектора калибровочных напряжений Uк.
3. Расчет элементов матриц поправочных коэффициентов Р и Рoи элементов вектора Pк.
4. Расчет матриц передачи Ко и К по формулам (2.116) и (2.117).
5. Вычисление Y-матрицы многополюсника по формуле (2.114)
2.6. Выводы по главе
В данной главе сформулированы теоретические положения по разработанным методам измерения.
Обозначена основная информация по определению Y и Z матриц.
В первой части изложена базовая методика измерения параметров моделей РК на основе S - параметров, как наиболее простая и сделано заключение о необходимости модификации базовой методики для возможности проведения измерений через Y - матрицу, что упрощает вычисления за счёт уменьшения количества расчётных операций.
Во второй части высказаны условия необходимые для повышения точности измерения и указано на необходимость учёта паразитных параметров измерительных цепей.
Рассмотрены паразитные параметры измерительных цепей. Сформулированы условия необходимые для эффективного функционирования методики измерения при наличии паразитных параметров.
В данной части главы рассматриваются непосредственно методы измерения параметров РК.
Первый метод подразумевает, что измерительный прибор искажений не вносит и индуктивность Li нагрузочного резистора несущественна, т.е. выполняется условие (2.33) и тогда YН может быть рассчитана по формуле (2.36).
Из уравнения (2.36) приходим к выводу, что имеется возможность определения влияния паразитных параметров измерительных цепей на результаты измерения Y матриц многополюсников; при этом учитываются систематические погрешности, вносимые паразитными емкостями, которые образуют монтажные проводники измерительной схемы.
Принципиальное ограничение на такой способ измерения накладывает необходимость применения идеальных, чисто активных нагрузок и образцовых мер.
Таким образом возникает потребность организации измерительного процесса отвечающего реальным условиям. Другими словами ставится задача определения Y - матрицы многополюсника при использовании в измерительной схеме комплексных нагрузок Z и образцовых мер Z вместо резистора Ri.
Данным утверждениям отвечает второй способ измерения. Этот способ измерения предполагает использование одного измерительного прибора типа векторного вольтметра (ВВ). При этом учитывается искажение информации за счёт шунтирования тестируемого полюса входным сопротивлением Zп пробника ВВ. Процесс измерения матриц Uo и U по первому и второму методам аналогичен.
Из формул (2.37), (2.38) непосредственно следует, что эффект шунтирования и, следовательно, вызываемое этим эффектом искажение информации, определяет отношение Zoi/Zп. Естественно, если выполняется условие (2.40), то этим эффектом можно пренебречь. В противном случае необходимо аттестовать сопротивление Zп.
Из условия (2.40) также следует, что искажения информации уменьшаются с уменьшением полного сопротивления образцовой меры Zoi(Zoi).
Уважаемый посетитель!
Чтобы распечатать файл, скачайте его (в формате Word).
Ссылка на скачивание - внизу страницы.