При разработке стабилизированных источников вторичного электропитания необходимо предусмотреть такие схемотехнические решения, которые обеспечивают надежную работу устройства при допустимых пределах технологического разброса и температурного изменения параметров полупроводниковых приборов. С этой целью производится правильный выбор этих приборов схемы, обеспечивается температурная стабилизация режимов работы, в схему вводятся цепи ООС. Для повышения надежности работы аппаратуры рекомендуется ограничивать значения напряжений и токов полупроводниковых приборов до уровня, не превышающего 70-80% предельно допустимых значений.
Не рекомендуется использование мощных полупроводниковых приборов при очень малых напряжениях питания и рабочих токах, поскольку при этом ухудшаются параметры приборов, увеличивается нестабильность параметров во времени и при изменении температуры окружающей среды, снижается надежность работы приборов при крайних значениях температуры окружающей среды.
Тепловой режим работы полупроводниковых приборов определяется совокупным воздействием температуры окружающей среды и мощности, рассеиваемой на р-п переходах. Поскольку температура р-п переходов не должна превышать максимально допустимого значения, определяемого материалом полупроводника, то следует предпринимать различные меры для уменьшения выделяющегося тепла, применять эффективные способы его отвода от приборов и обеспечивать их защиту от кратковременных тепловых перегрузок.
При работе полупроводникового прибора в режиме переключения можно выделить следующие основные составляющие мощности, рассеиваемой в приборе:
а) мощность, определяемая падением напряжения на переходах Uпр при протекании через прибор тока нагрузки (прямого тока) Iпр;
б) мощность, определяемая обратными напряжением Uобр и током прибора в выключенном состоянии Iобр; в) мощность, определяемая током управления Iy и падением напряжения на управляющем переходе прибора Uy ;
г) мощность, определяемая процессами переключения прибора.
Первые три составляющие представляют собой статические потери мощности в полупроводниковом приборе, не зависящие от частоты переключения, последняя – динамические потери, пропорциональные частоте переключения. Упрощенные временные диаграммы тока, напряжения и мгновенной рассеиваемой мощности для полупроводникового прибора, работающего в режиме переключения, приведены на рисунке 1.11.
Статические потери мощности Рст определяются выражением:
, где tпр – длительность открытого состояния прибора; tобр длительность закрытого состояния прибора; Тк – период коммутации прибора (fк=1/ Тк— частота коммутации прибора).
Если tпр =tобр , то .
Динамические потери мощности в приборе при переключении Рдин могут быть определены с достаточной для практических целей точностью из выражения:
, где tвкл – длительность этапа включения прибора; tвыкл – длительность этапа выключения прибора.
Полная мощность, рассеиваемая в полупроводниковом приборе, работающем в режиме переключения, равна сумме статических и динамических потерь мощности:
При работе полупроводникового прибора в режиме непрерывного регулирования мощность, рассеиваемая в приборе, имеет только две составляющие:
,
Конструкция корпусов современных мощных полупроводниковых приборов позволяет рассеивать мощность не более 2-3 Вт без перегрева переходов свыше максимально допустимого значения. Для рассеивания больших мощностей полупроводниковые приборы необходимо устанавливать на теплоотводящие устройства (радиаторы). При этом возможны различные способы отвода тепла: естественное, принудительное (воздушное или жидкостное), охлаждение с помощью тепловых трубок, микрохолодильников, поглотителей тепла и пр. В радиолюбительской практике обычно используется естественный способ отвода тепла за счет теплопроводности, конвекции и лучеиспускания.
Уважаемый посетитель!
Чтобы распечатать файл, скачайте его (в формате Word).
Ссылка на скачивание - внизу страницы.