кафедра «Конструирования и технологии радиоэлектронных средств»
УТВЕРЖДАЮ
Первый проректор
_______________
«___» _____________2005 г.
по дисциплине ______«Физические основы микроэлектроники»______________
для специальностей 210201 «Проектирование и технология радиоэлектронных_ средств» и 210202 «Проектирование и технология_электронно-вычислительных средств» направления 210200 «Проектирование и технология электронных____ средств» __________________________________________________
вид обучения полное очное образование ____________________
(очное, очно-заочное, заочное)
Вид занятий |
Количество часов |
|||
Всего |
Распределение по семестрам |
|||
4 |
||||
Лекции |
68 |
68 |
||
Лабораторные |
34 |
34 |
||
Практические |
17 |
17 |
||
Рейтинг-контроль (к-во) |
3 |
3 |
||
Зачет |
+ |
|||
Экзамен |
+ |
Владимир 2005 г.
1.1. Значение курса в подготовке специалиста
Дисциплина предусматривает изучение теоретических основ эффектов и явлений в структуре полупроводников, обусловливающих функционирование интегральных микросхем различных видов. Исследования математических моделей эффектов обеспечивают возможность получения количественных оценок явлений во взаимосвязи с действующими факторами, необходимы для синтеза физической структуры элементов и узлов интегральных микросхем с заданными электрическими характеристиками.
Теории генерации и рекомбинации носителей заряда в полупроводниках является одним из элементов теоретических основ функционирования интегральных транзисторов. Генерационно - рекомбинационные эффекты обуславливают деградационные явления в полупроводниковых микроструктурах. Количественные оценки интенсивности таких процессов лежат в основе физической теории надежности, применяемой для получения расчетных оценок показателей эксплуатационной надежности электронных средств.
1.2. Взаимосвязь с другими дисциплинами
Изучение дисциплины предусматривает применение знаний, навыков и умений, полученных при изучении курсов физики, специальных глав физики, математики. Предусматривается использование различных видов информационных технологий, программных продуктов и ресурсов INTERNET.
1.3. Цель преподавания дисциплины
Основные цели изучения дисциплины предусматривает формирование знаний физики фундаментальных процессов, эффектов и явлений, обуславливающих функционирования полупроводниковых микроструктур в разных электрических режимах при воздействии внешних факторов. Уровень освоения материала должен обеспечивать возможность получения расчетных оценок электрических параметров и характеристик полупроводниковых микроструктур с использованием возможностей современных информационных технологий.
1.4. Задачи изучения дисциплины
Реализация поставленной цели достигается изучением основ квантовой механики, квантовой статистики, физики твердого тела, физики полупроводников, контактных явлений в полупроводниках и диэлектриках. Изучение эффектов генерации – рекомбинации носителей заряда в полупроводниках, физических основ эффектов и механизмов переноса носителей заряда в полупроводниках, p-n переходах и контактах металл – полупроводник рассматривается как необходимое условие исследования физической структуры, принципов функционирования и теоретического моделирования электрических характеристик интегральных транзисторов и микроструктур.
2. ТЕМАТИЧЕСКИЙ ПЛАН КУРСА
Уважаемый посетитель!
Чтобы распечатать файл, скачайте его (в формате Word).
Ссылка на скачивание - внизу страницы.