Ще одною характеристикою фоторезисторів є частотні властивості. Для більшості фоторезисторів пропорційність між частотою модуляції світлового потоку і відповідною зміною фотоструму обмежується одиницями кілогерц.
Паспортними параметрами фоторезисторів є:
· Монохрамотична чутливість Si = Iф/Фл.. Її величина може досфгати 20 А/Лм.
· Темновий опір. Його величини коливаються в діапазоні 102 £ RT £ 109 (Ом).
· Робоча напруга.
Діапазон робочих напруг знаходиться в діапазоні до декількох сотень вольт. Параметри фоторезиcторів в значній мірі залежать від температури.
Фоторезистори находять широке використання в системах автоматики для контролю над освітленням приміщень, робочих місць, вулиць і т.п.
Магніторезистори – напівпровідникові резистори, в яких провідність зменшується при дії магнітного поля. Сучасні магніторезистори працюють в широкому діапазоні магнітних потоків – від 0-0.1 Тл до 2-3 Тл. При малих значеннях магнітних потоків більшість магніорезисторів збільшує свій опір в залежності :
RmФм2.
При великих рівнях магнітних потоків (Фм > 1 Тл):
RmФм.
Магніторезистори використовуються як датчики магнітних полів в ріхних приладах і електромагнітних перетворювачах.
Ефект Холла
Ефект Хола полягає в слідуючому: якщо напівпровідник, через який протікає електричний струм, помістити в магнітне поле, перпендикулярне напрямку струму, то в напівпровіднику появиться електричне поле, перпендикулярне напрямку струму і магнітного поля з напруженістю, яка є пропорційна щільності струму і індукції магнітного поля. Ефект Хола в напівпровідниковій структурі обумовлений дією сили Лоренца на заряди, що рухаються в магнітному полі.
Розглянемо більш детально явища в розміщеному в магнітному полі напівпровіднику р-типу, рис.Х1, через який протікає постійний струм І. Дірки, що мають заряд q , переміщуються в напрямку, вказаному стрілкою, зліва направо з швидкістю v. Напрямок дії магнітного поля з індукцією В співпадає з віссю у. На заряд діє сила Лоренца, величина якої
Завдяки силі Лоренца дірки напівпровідника відхиляються до верхньої грані напівпровідникової пластини, що приводить до зростання їх концентрації в верхній частині пластини і зменшення в нижній частині. Такий перерозподіл зарядів в напівпровіднику приводить до появи електричного поля Е і різниці потенціалів між верхньою і нижньою гранями:
UХ = E×d,
де d – відстань між гранями.
Створене електричне поле Е буде діяти на заряди в напрямку, направленому проти дії сили Лоренца і при взаємно перпендикулярних напрямах векторів v, B, I рух зарядів до верхньої пластини припиниться при E×q = qvB. Звідси витікає, що різниця потенціалів між верхньою і нижньою гранями напівпровідникової пластини може бути обчислена по формулі:
UХ = v B d , |
(2.14) |
і вона називається е.р.с. Хола.
Враховуючи, що струм, протікаючий через напівпровідникову пластину
I = p q v d h ,
формулу (2.14) можемо зобразити в вигляді:
UХ = (R/h) ×I B , |
(2.15) |
де параметр R = 1/pq називається коефіцієнтом Хола. Його величина, як видно з формули, залежить від концентрації домішок і температури.
Формула (2.15) покахує, що е.р.с. Хола залежить від фізичних властивостей матеріалу напівпровідника, розмірів пластини, величини протікаючого струму та величини індукції магнітного поля.
Для напівпровідника n- типу коефіцієнт R матиме від’ємне значення, а напрямок е.р.с. буде протилежним дії е.р.с. напівпровідника р- типу.
Вираз (2.15) для е.р.с. Холла був отриманимй без врахування хаотичного теплового руху електронів та їх розподілу на швидкості.
Більш точне значення коефіцієнта Холла враховується коефіцієнтом Н, значення якого знаходяться в інтервалі 1 – 2. Тобто, RH =RH.
В напівпровідниках зі змішаним типом провідності е.р.с. Хола може бути значно меншою ніж в напівпровіднику з одним типом провідності.
Уважаемый посетитель!
Чтобы распечатать файл, скачайте его (в формате Word).
Ссылка на скачивание - внизу страницы.