Основные методы исследования материалов, деталей машин и их свойств, страница 4

(3)  по цикличности воздействия факторов:

3.1. одноциклические – методы непрерывного воздействия всего комплекса факторов;

3.2. циклические методы воздействия.

Существует ряд ГОСТов регламентирующих проведение ускоренных климатических испытаний:

ГОСТ 24813-81 «Испытания изделий на воздействие климатических факторов»;

ГОСТ 16962.1-89 «Методы испытаний на устойчивость к климатическим внешним воздействующим факторам»;

ГОСТ 9.708-83 «Пластмассы. Методы испытаний на старение при воздействии естественных и искусственных климатических факторов»;

ASTM Д 1485-75 «Пластмассы. Метод определения стойкости к атмосферным воздействиям »;

ASTM Д 756-56 «Ускоренное определение устойчивости пластмасс в условиях эксплуатации ».

Литература:

Л. С. Корецкая. Атмосферостойкость полимерных материалов. – Мн. Навука; Тэхнiка,1993, 206 с.

Тема 8.3       Методы анализа состава и структуры поверхности* материала.

*Справка: Под поверхностью понимают часть объёма материала толщиной 1-10 атомных слоёв, лежащую под поверхностным моно атомным слоем.

Классификация:

1  Спектроскопические методы, предназначенные для изучения химической структуры (состава)

2  Микроскопические методы, предназначенные для изучения физической структуры (морфологии поверхности)

Тема 8.3.1Спектроскопические  методы анализа поверхности

Спектроскопические методы анализа поверхности основаны на изучении реакции поверхности на воздействие различных факторов.

Классификация спектроскопических методов

1. По виду зондирующего поверхность потока частиц (таблица 1). Существует четыре основных вида зондирующих потоков частиц: электроны, ионы, нейтральные частицы и фотоны. Кроме этого поверхность может подвергаться и другим видам воздействия, таким как нагревание, электрическое или магнитное поле, звуковые поверхностные волны.

2.   По виду эмиттируемых (детектируемых) частиц (таблица 1). Зондирующие поверхность частицы вызывают эмиссию вторичных частиц: электронов, ионов, фотонов или нейтральных атомов, несущих информацию о поверхности на соответствующий детектор.

Классификация спектроскопических методов

по виду зондирующего и детектируемого потоков

 Таблица 1.

Частицы		Зондирующие поверхность частицы
		Фотоны (hv)	Электроны (е)	Ионы (М+)	Н. частицы (М0)
Вид эмис сии	е	РФЭС, УФЭС	ОЭС
	hv	КРС, ИКС
	ионы		МСЭПЗ	ВИМС, СИР
	Н.ч. (М0)		ЭСД

3.  По диапазонам длин электромагнитных волн зондирующего излучения

(таблица 2).

3.1  g- спектроскопия

3.2  Рентгеновская

3.3  Оптическая

3.4  Радиочастотная

Таблица 2.

 

электрический

ЭПР

              

 

внутриядерной

            

 

4.  По типам переходов  (или видам движения в молекулах) (таблица 2 ).

4.1  Электронная – изучает электронные переходы внутренних оболочек, которые осуществляют атом, молекулы и конденсированные среды.

4.2  Колебательная – изучает колебательные переходы молекул между колебательными состояниями.

4.3  Вращательные – изучает вращательные переходы молекул с одних вращательных уровней на другие.

4.4  Магнитная – изучает переходы магнитной структуры.

4.5  Электрическая - изучает переходы электрической структуры.

4.6  Тонкой структуры – изучает переходы тонкой структуры (спин – орбитальное взаимодействие).

4.7  Сверхтонкой структуры – изучает переходы сверхтонкой структуры (взаимодействие электронного момента атома с ядерным моментом).

5. По типам исследуемых объектов.

5.1  Спектроскопия атомов.