Физико-химические и физические основы ионных, ионно-плазменных, плазмохимических методов нанесения и травления микроэлектрон­ных структур, страница 4

Механизм конденсации атомов материала мишени на подложке примерно тот же, что и при использовании метода термического испа­рения. Так как основная масса конденсирую­щегося материала поступает в перпендикуляр­ном к подложке направлении, пленки имеют столбчатую структуру, механизм роста которой зависит в основном от двух параметров: рабо­чего давления в камере распыления и темпера­туры подложки. Чем выше температура, тем больше сечение столбцов и они плотнее упа­кованы. С ростом давления плотность их упа­ковки ниже. Газовые включения в пленке при ионно-плазменном нанесении могут быть уда­лены путем принудительной бомбардировки поверхности растущей пленки теми же ионами плазмообразующего газа ионизированных атомов распыленного материала путем подачи на пла­стину небольшого (менее -300 В) напряжения от дополнительного источника питания (распыление со смещением). Кроме того, по­дача такого напряжения увеличивает однород­ность покрытий на рельефных поверхностях, так как при повышении температуры расту­щего слоя увеличивается поверхностная под­вижность конденсирующихся атомов.


Типы распылительных систем.Существует широкая гамма конструкций распылительных систем. Схема простейшей диодной системы показана на рисунке.

  Качество пленок из-за больших рабочих давлений не очень высокое, а небольшая скорость нанесения не позволяет обеспечивать высокую производительность. Благодаря простоте конструкции и эксплуата­ции этот метод широко применяется для изго­товления неответственных изделий.

При необходимости распылять диэлек­трические материалы или металлы с высоким сопротивлением систему питания обычной диодной системы необходимо модифициро­вать. Для этого вместо постоянного напряже­ния на электроды диодной системы подается напряжение ВЧ (13,56 МГц – промышленно разрешенная частота).

В этом режиме электроны плазмы колеб­лются с энергией, достаточной для ионизации атомов плазмообразующего газа, поэтому разряд мало зависит от вторичных электронов, излучаемых мишенью. Это позволяет создавать стабильную плазму при меньших приклады­ваемых к разрядному промежутку мощностях и при более низких давлениях, чем при ис­пользовании постоянного тока.

Если электрод смещения со­единен с ВЧ - генератором через последова­тельно подключенную емкость, на поверхно­сти распыляемого диэлектрика (мишени) по­является импульсный отрицательный потенци­ал, среднее значение которого называется по­тенциалом автополяризации. Из-за большой разницы в подвижности ионов и электронов вольт - амперная характеристика тлеющего разряда соответствует рисунку.

В течение первого (положительного) полупериода на электрод поступает поток электронов, а во втором (отрицательном) полупериоде - поток положительных ионов. Так как заряд через емкость не протекает, на поверхности диэлек­трической мишени появляется отрицательный автопотенциал и таким образом выравнивают­ся положительные и отрицательные зарядные токи на мишень, чтобы общий поток в тече­ние одного периода был равен нулю.

Обычно подводимая удельная мощность составляет 1–10 Вт/см2. При меньших значе­ниях разряд зажечь практически невозможно, а при высоких возможен сильный разогрев мишени, приводящий к повышенному газоот­делению с поверхностей близлежащих деталей и к деструкции распыляемого материала.

Основной недостаток диодных систем – низкая скорость распыления даже при высо­ких ускоряющих напряжениях. Для устране­ния его необходимо увеличение на мишени плотности тока ионов плазмообразующего газа. Реализовать это можно с помощью триодной системы с дополнительным источником ионизации или диодной системы с продоль­ным магнитным полем, концентрирующим плазму в центре катода. Однако широкого применения эти системы не нашли. Опти­мальным является использование магнетронного эффекта при распылении в диодной сис­теме.

Реактивное распыление.