К вопросу измерения Y-параметров многополюсников при реальном источнике сигнала, страница 2

Таким же образом определяют значение сопротивления Zi, подключив его к выходу измерительной схемы на третьей стадии измерения.

Для определения сопротивления Zгi*; эквивалентного генератора достаточно выполнить опыты рис.2, а и рис.2,б. Тогда искомое сопротивление можно рассчитать по формуле

Zгi*=Zoi(Uoii/Uoi-1).                        (12)

В результате определяем все значения сопротивлений, необходимые для расчёта сопротивления Zoii, которое необходимо для корректировки напряжений Úoii, Úoi и Úii.

Корректировку производят путём расчёта напряжений на контактах i схемы рис.2 при Zgi=0

Тогда напряжения Ú*oii, Ú*oi и Ú*ii рассчитываются по формулам

Ú*oii=(Éi(Zi+Zр)Zoii)/( ZiZр+(Zi+Zр) Zoii);      (12)

Ú*oi=(Éi(Zр+Zi)ZoiiZoi)/( ZрZi(Zoii+Zoi)+

ZoiiZoi(Zр+Zi));                         (13)

Ú*ii=(Éi(Zр+Zi)ZoiiZii)/(ZрZi(Zoii+Zii)+

ZoiiZii(Zр+Zi));                       (14)

где Zii- входное сопротивление многополюсника со стороны i-го входа определяемое по формуле

 Zii=Zoioiioi-1)/ (Úoiiii-1).            (15)

Для определения Éi воспользуемся схемой рис.2,а, из анализа которой следует расчётная формула

Éioii[(Zgi+ Zi) Zп+ Zoii(Zgi+ Zi+ Zп)]/

Zoii(Zgi+ Zi+ Zп).                         (16)

Подставляя (16) в (12)-(14) получаем основные расчётные формулы.

  i         Úoii[(Zгi+Zi)Zр+Zoi(Zгi+Zi+Zр)(Zi+Zр)Zoii]      

Ú*oi=___________________________________________________ ;      (17)

Zoi(Zгi+Zi+Zп)[ZiZр+(Zi+Zр)Zoii]

Úoii[(Zгi+Zi)Zр+Zoii(Zгi+Zi+Zр)](Zр+Zi)Zoi  

Ú*oi= ___________________________________________________;       (18)

(Zгi+ Zi+Zр)[ZрZi(Zoii+Zoi)+ZoiiZoi(Zр+Zi)]

Úoii[(Zгi+Zi)Zр+Zoii(Zгi+Zi+Zр)](Zр+Zi)Zoi  

Ú*ii= ____________________________________________________;      (19)

(Zгi+ Zi+Zр)[ZрZi(Zoii+Zii)+ZoiiZii(Zр+Zi)]

Корректировку коэффициентов матриц передачи производят по следующим формулам:

Коэффициент Кi находят по формуле

Ki*oiioi-1.                          (20)

Коэффициенты матриц передачи без учёта влияния измерительного прибора определяют по формулам для диагональных элементов (i=j)

Kii=2Ú*oiiKi*Zoi*oii;                       (21)

Кoii=2 Ki*Zoi;                               (22)

Kji=2Ú*jiKi*Zoi*oii;                        (23)

Koji=2Ú*ojiKi*Zoi*oii;                      (24)

Расчёт матриц К и Ко определённых с учётом влияния сопротивления Zр, шунтирующего измерительного схему производится по формулам

Kii=2Ú*iiKi*Zoi/[Ú*oii(1-(Ú*jj ZojKj**ojj Zр))];   (25)

для  диагональных и

Kji=2Ú*jiKi*Zoi/[Úoii(1-(Ú*jj ZojKjojj Zп))];     (26)

для недиагональных коэффициентов К матриц.

Ко матрицу рассчитывают по формулам

Koii=2Ki*Zoi/(1-ZojKj*/ Zр);                (27)

для диагональных и

Koji=2ÚojiKi*Zoi/[Úoii(1-(ZojKj/Zр))];         (28)

для недиагональных коэффициентов.

Выполненные исследования показывают, что искажения вносимые в результаты измерений Y-матрицы многополюсника с помощью схем с конечными полюсными нагрузками могут быть скорректированы путём несложных измерительных операций, которые, в основном, производят на этапе калибровки измерительной схемы. Алгоритм измерительного процесса сводится к следующим основным этапам:

1)  Калибровка генераторной части измерительной цепи. Определение сопротивления Zgi, Zi, Zoii,.

2)  Проверка условия (1). Если условие (1) выполняется, то измерительные схемы со стороны тестируемого полюса находятся в оптимальном режиме, и корректировка результатов измерения не требуется. В противном случае рассчитывают корректированные значения напряжений Uoi* и Uoii* и заносят их значения в соответствующие матрицы Uo и вектора Uk.

3)  Чтобы отличить корректированные и некорректированные элементы предлагается формировать дополнительный вектор признаков размером n- по числу полюсов.

4)  По значениям напряжений матрицы Uo, вектора Uк и вектора признаков формируют матрицу Ko и K. Операция производится один раз перед массовым измерением партии однотипных элементов.

5)  Измерение многополюсника производят обычным образом. Если необходимо корректировка напряжений Úoii, то после вычисления сопротивления Zii по формуле (15) производят расчёт напряжения Ú*oii, по формуле (14), а затем рассчитывают соответствующие коэффициенты матрицы К по формулам (21), (23) или (25), (26).

6)  После определения матриц К и Ко по формулам (21), (23) или (25), (26);  (22), (24) или (27), (28). Рассчитывают матрицу Y по формуле (2).


Литература

1. Мирошник И.А. Машинно-ориентированные способы определения параметров рассеяния линейных многополюсников на высоких частотах // ДР, 1989, №5, б/о 706. №609-389 от 25.01.89. ВИНИТИ.

2. А.С. 131737O СССР, МКИ G 01 R 27/32. Способ определения линейных параметров многополюсника /И.А. Мирошник и др. - Заявлено 6.01.83. Опубл. в БИ. 1987, N 22,  с.1.

3. Бутырин А.А. Машинно-ориентированные методы и технические средства измерения параметров моделей двухполюсных радиоэлементов / Бутырин А.А., Исаев И.В., Мирошник И.А./ Элементы и устройства микроэлектронной аппаратуры: Межвуз. Сб. Научн. Тр. - Воронеж: ВГТУ, 1995. С.61-67   

4. А.С. 1580282 СССР, МКИ G 01 R 27/00. Устройства для измерения комплексных параметров двухполюсников / И.А. Мирошник и др. - Заявлено 19.11.86. Опубл. 23.07.90. Бюл. № 27. с.1



Мирошник Игорь Афанасьевич. Воронежский государственный технический университет. Доцент кафедры радиоэлектронных средств и систем. Кандидат технических наук.

Калюжный Алексей Николаевич. Воронежский государственный технический университет. Аспирант.