Влияние погрешности базирования на точность получаемого размера: Методические указания к лабораторной работе № 12, страница 3

Г2 = В2 – Б2 = 72 – 21 = 51 мм и по показаниям индикатора определить отклонение от номинального размера и фактические размеры Г2.

2) Микрометром с пределом измерения 75–100 мм измерить фактический размер В2 от номинального размера В2 = 72 мм.

3) Ранее настроенным индикаторным нутромером произвести измерение отклонений от номинальных размеров и определить фактические размеры отверстий d2.

5.6. Результаты измерений погрешностей wГ1, wА1 = wd1/2 и фактических размеров Г1 и

А1 = d1/2 занести в табл. 5.1 и размерную схему (Рис. 2.1)

Таблица 5.1

Номер работы

1

1

Г1

А1

Б1

1

1

2

3

Сред.

Max.

Min.

Результаты измерений погрешностей wГ2, wВ2 и  wА2 = wd2/2 и фактических размеров Г2, В2 и

А2 = d2/2 занести в табл. 5.2 и размерную схему (Рис. 2.1)

Таблица 5.2

Номер работы

2

2

2

Г2

В2

А1

Б3

Б2

3

1

2

3

Сред.

Max.

Min.

5.7. Составить схемы размерных цепей (Рис. 2.1) для обеих вариантов базирования и из уравнений (3.1), (3.6), (3.7), (3.8) И (3.11) определить фактические размеры Б1 и Б2и их погрешности wБ1 и wБ2. Результаты занести в табл. 5.1 и 5.2.Сравнить полученные данные и определить какой метод базирования дает лучшие результаты.

5.8. Рассчитать допуск на размер В2 (уравнение 3.12), при котором изготовленная деталь обеспечила бы необходимую точность получения размера Б2 (21 ± 0,15 мм) при базировании по П варианту, когда технологическая базовая поверхность не совпадает с измерительной базовой поверхностью. Сделать соответствующие выводы.

6. СОДЕРЖАНИЕ ОТЧЕТП

6.1.Начертить размерную схему обрабатываемой детали с необходимым расположением размеров для проведения анализа технологических размерных цепей.

6.2.Привести результаты измерений в виде таблиц.

6.3.Привести схемы размерных цепей для обеих вариантов базирования.

6.4.Привести сравнительные данные погрешностей координатных размеров wБ1 и wБ2 и сделать соответствующие выводы.

6.5.Привести расчет допуска на размер В2, обеспечивающий необходимую точность координатного размера Б2 (21 ± 0,15 мм) при сверлении отверстия с базированием по II варианту (технологическая базовая поверхность не совпадает с измерительной), и сделать соответствующие выводы.

7. КОНТРОЛЬНЫЕ ВОПРОСЫ

1)  Что называется технологической, конструкторской, измерительной и сборочной базовыми поверхностями.

2)  В чем сущность принципа постоянства баз.

3)  В чем сущность принципа совмещения баз.

4)  В чем сущность смены баз.

5)  Что такое организованная и неорганизованная смена базовых поверхностей.

6)  Какие поверхности выбираются в качестве технологических баз на первых, черновых и заключительных, чистовых, операциях технологического процесса.

7)  Что такое технологическая размерная цепь и для чего она строится.

8)  Какие звенья размерной цепи используются в качестве замыкающих.

9)  Что называется увеличивающими и уменьшающими звеньями размерной цепи.

10) С какой целью и когда делается пересчет допусков и на какие звенья размерной цепи.

СПИСОК РЕКОМЕНДУЕМОЙ ЛИТЕРАТУРЫ

1.Маталин А.А. Технология машиностроения. Л., Машиностроение, 1985, 496 с.

2.ГОСТ 16319-70. Цепи размерные, термины, определения и обозначения.

3.ГОСТ 16320-70. Методы расчета плоских цепей.

4.Балакшин Б.С. Основы технологии машиностроения. М., Машиностроение, 1969. 358 с.

5.Справочник технолога-машиностроителя, т.2, под редакцией А.Г. Косиловой и Р.К. Мещерякова, М., Машиностроение, 1985. 496 с.

6.Долматовский Г.А. Справочник технолога. М., Машгиз, 1962, 1236 с.

Размерная схема обрабатываемой детали

Рис 2.1

                                               Рис.3.2                                                                                    Рис 3.1