Исследование методов обеспечения заданной точности при сборке электронной аппаратуры, страница 3

Рассмотрим расчет допусков на параметры сопротивлений резисторов делителя по методу неполной взаимозаменяемости. Допустим, что процент риска равен 5% , тогда коэффициент относительного рассеяния  = 1,33. Уравнение допусков в данном случае запишется следующим образом:

аналогично полагая  =10% и ==, уравнение допусков перепишется в виде

или ,

тогда === = 19%.

            При расчете допусков на параметры сопротивлений резисторов для сборки с групповой взаимозаменяемостью воспользуемся методом максимума-минимума, так как законы распределения погрешностей в группах рассортированных деталей неизвестны. Тогда

, а величина поля группового допуска равна .

Таким образом партия резисторов рассортировывается на группы шириной 1%, поскольку, то комплекты для сборки делителей формируются из пар резисторов принадлежащих к одной группе. Для проверки погрешностей выходного параметра воспользуемся уравнением погрешности (1).  Для группы с границами [9,10]% наихудший случай сборки

,

.

С учетом взаимной компенсации идентичных погрешностей ширину групп сортировки можно увеличить в 2 раза, т.е. .

3. ПОРЯДОК ВЫПОЛНЕНИЯ РАБОТЫ

3.1. Исследование процесса сборки по методу полной взаимозаменяемости

            1. Получить у преподавателя задание в виде партии резисторов (50 – 100) штук из производственной упаковки с допуском= +10%, измерить их сопротивления, построить гистограмму распределения сопротивлений (см. приложение    ), определить оценки математического ожидания , среднеквадратического отклонения  и поля рассеяния .

            2. Сопоставить полученные характеристики с предположением о нормальном законе распределения. При этом рассмотреть соответствие полученного поля рассеяния  с заданным допуском , оценку математического ожидания  с номинальным значением сопротивления резисторов, указанным на упаковке  и, сопоставить форму полученной гистограммы с кривой нормального закона распределения.

            3. Определить поля рассеяния коэффициента передачи делителя рис. 1, полагая, что  и  , пользуясь выражением (2),  и предположением о нормальности законов распределения и  = 1:

            - для нормативных значений, заданных на упаковке - , ;

            - для измеренных реальных (заданных гистограммой) характеристик выборки - , =3.

            4. Подготовить лабораторный стенд для контроля коэффициента передачи делителя.

Входное напряжение установить, тогда . В этом случае погрешность коэффициента передачи в процентах будет равна сотым долям .

            5. Устанавливать последовательно пары резисторов (выбранные случайно) в клеммы стенда и измерять с точностью до второго знака после запятой. Погрешности , т.е. отклонения от «1» с точностью до второго знака после запятой -  занести в таблицу.

            6. Построить гистограмму распределения отклонений , определить оценки математического ожидания , среднеквадратического отклонения   и поля рассеяния  при сборке по методу полной взаимозаменяемости. Сопоставить экспериментальные данные с расчетными п.3.

3.2. Исследование процесса сборки по методу неполной взаимозаменяемости

            7. Получить у преподавателя задание в виде заданного значения процента риска выхода бракованных делителей, относительно , полученного в п.6.

            8. Определить поле рассеяния  с учетом процента риска, пользуясь выражением  (4).

            9. Определить процент брака на основе гистограммы п.6 для расчетного значения   п.8.

3.3. Исследование процесса сборки по методу групповой взаимозаменяемости

            10. Рассчитать групповые допуски для сортировки резисторов при заданном значении допуска =2%.

            11. Рассортировать резисторы полученной партии на группы с групповым допуском 1% или 2% относительно оценки математического ожидания .

            12. Осуществить сборку делителей напряжения, устанавливая последовательно пары резисторов из одной группы в клеммы стенда.  Для каждой сборки (комплекта резисторов) измерять с точностью до второго знака после запятой. Погрешности , т.е. отклонения от «1» с точностью до второго знака после запятой -  занести в таблицу.

            13. Построить гистограмму распределения отклонений , определить оценки математического ожидания , среднеквадратического отклонения   и поля рассеяния  при сборке по методу групповой взаимозаменяемости. Сопоставить экспериментальные данные с расчетными п.3 и экспериментальными п.6.

            14. Определить уровень незавершенного производства – количество резисторов в группах сортировки не имеющих пары.

4. ЗАДАНИЕ ПО УИРС

Задачи, предлагаемые для исследования

1.  Исследование точности сборочных процессов на основе ме­тода взаимозаменяемости.

2.  Исследование точности сборочных процессов на основе ме­тода селекции.

3.  Исследование   объема    незавершенного    производства   при сборке по методу взаимозаменяемости и селекции.

Исследование влияния алгоритмов комплектования на точ­ность селективной сборки

4.  Исследование влияния числа групп разбиения на точность селективной сборки.

5.  Исследование влияния границ групп разбиения на точность селективной сборки.

6.  Исследование влияния числа групп разбиения на незавер­шенное производство при селективной сборке.

7.  Исследование влияния границ групп разбиения на незавер­шенное производство при селективной сборке.

5. ОФОРМЛЕНИЕ ОТЧЕТА

Отчет должен содержать: а) формулировку цели работы; б) - основные положения алгоритмов сборки по методу взаимозаменяемости; в) гистограммы и расчетные характеристики законов распределения; г) оценки точности выходного параметра для разных методов сборки; д) выводы о результатах сравнительной оценки методов сборки.

6. Контрольные вопросы

Порядок разработки схемы сборочного состава.

То же, для схем технологического процесса оборки.

Чем отличается серийное производство от мелкосерийного?

Назовите участки серийной сборки.

Назовите операции подготовки радиоэлементов, плат и сборки узлов.

Как вычисляются параметры участка и линии?

Библиографический список

1. Гусев В.П. Технология радиоаппаратостроения. Учебное пособие для вузов. М.: Высшая школа. 1972. 496с.

            2. Буловский П.И., Крылов Г.В., Лопухин В.А. Автоматизация селективной сборки приборов. Л.: Машиностроение. 1978. 232с.

            3. Лопухин В.А. Обеспечение точности электронной аппаратуры. Л.: Машиностроение. 1980. 269с.