Диффузионное насыщение цинком – Тнас 300-500ºС и 700-1000ºС в расплавленном цинке, порошке или в парах цинка. Применяют для увеличения коррозионной стойкости стали в атмосфере, бензине, маслах и горячих газах (300-500ºС) содержащих сероводород.
Для проведения исследования поверхностных слоев требуется многократная рентгеновская съемка после постепенного стравливания снятых слоев до матрицы.
Количественный фазовый рентгеноструктурный анализ основан на определении интенсивности линий исследуемой фазы, сравнением интенсивности линий определяемых фаз между собой или с интенсивностью линии эталонного образца, полученной на одной рентгенограмме или дифрактограмме с линиями исследуемого образца (метод подмешивания эталона или метод независимого эталона).
При одном и том же содержании определенной фазы интенсивность ее линий изменяется в зависимости от среднего коэффициента поглощения рентгеновских лучей в образце. Поэтому необходимо найти эту зависимость и определить коэффициент поглощения образца или устранить влияние фактора поглощения.
Анализ с применением независимого эталона: относительная интенсивность линий какой либо фазы однозначно связана с количеством ее в образце. Это количество можно определить из сравнения интенсивности линий независимого эталона. Для этого необходимо знать, как меняется отношение интенсивностей заданной пары линий эталона и определенной фазы при изменении отношения количества эталона и исследуемой фазы.
Если образец можно измельчить в порошок, то эталонное вещество (в виде порошка) удобно подмешивать к анализируемой смеси. Если исследуемый образец нельзя получить в виде порошка, то нужно использовать съемку с независимым эталоном.
Выбор той или иной схемы съемки зависит от характера решаемой задачи, формы и размера образцов и от требований к разрешающей способности метода съемки.
Разрешающая способность съемки тем выше, чем больше расстояние R от пленки до образца, чем больше угол θ и длина волны λ применяемого излучения.
Для данного исследуемого объекта разрешающую способность можно увеличить, повышая θ, λ и R. Следует помнить, что выбор излучения ограничен длинами волн материала образца. Иначе характерестическое вторичное излучение вуалирует пленку. Для поглащения этого излучения между образцом и пленкой ставят поглащающий фильтр – алюминиевую фольгу, пленку или бумагу. Вторичное излучение особенно сильно сказывается если материал имеет атомный номер, меньший но близкий к атомному номеру анода. Наиболее распространены трубки с анодом из Cr, Fe, V, Co, Ni, Cu, Mo. Также трубки изготавливают с серебряными и стронциевыми анодами.
Важной характеристикой трубки является ее предельная мощность: P=UI (U – максимальное высокое напряжение, I – ток трубки). Повышение Р недопустимо т.к. это вызовет перегрев анода. Настройка трубки состоит в определенной зависимости между током смещения и размерами образца. При изменении тока смещения изменяется удельная мощность трубки, о которой можно судить по величине максимального тока через трубку при постоянном напряжении.
Под электронными характеристиками рентгеновских трубок понимают следующие две зависимости:
1)Iт=f(Iн) при U=const
Iт – ток в трубке образовавшийся за счет электронов с катода на анод,
Iн – ток накала;
2) Iт=f(U) при Iн=const.
Уважаемый посетитель!
Чтобы распечатать файл, скачайте его (в формате Word).
Ссылка на скачивание - внизу страницы.