Параметры и могут быть определены из экспериментальных данных.
В выражении (1.1) для прямой ветви ВАХ можно пренебречь единицей в скобках, тогда , - ток насыщения, -коэффициент неидеальности перехода. В идеальном p-n переходе , с ростом доли генерационно-рекомбинационного тока, а также при увеличении уровня инжекции и падения напряжения на последовательном омическом сопротивлении увеличивается и может быть в пределах .
В логарифмическом масштабе по оси токов получается линейная зависимость от
, угловой коэффициент которой позволяет определить коэффициент неидеальности
Ток определяется линейной экстраполяцией зависимости к точке = 0.
Например, на рис. 1.2 прямой ток возрастает от 1мА при = 0.4 В до 10 мА при 0.7 В, тогда В, =4, =1.3, и = 3.10-12 А.
Исследуемые в работе диоды выполнены из различных полупроводниковых материалов, но имеют примерно одинаковые физико-конструктивные параметры. Отличие их характеристик обусловлено различием ряда параметров полупроводниковых материалов: ширины запрещенной зоны, подвижности и времени жизни носителей заряда и др., из которых наиболее существенный вклад вносит разница в ширине запрещенной зоны . Она определяет собственную концентрацию носителей заряда
, которая входит в выражения для параметров ВАХ - тока насыщения и тока термогенерации в p-n переходе.
Рис 1.2. Прямая ветвь ВАХ в логарифмическом масштабе по оси токов
В таблице приводятся значения и исследуемых полупроводниковых материалов при 300 К , а также рассчитанные по формулам (1.2) и (1.4) значения токов насыщения и токов термогенерации в p-n переходе при = 1013 см-3,
= 300 мкм, = 10-3 см2. Так как некоторые данные для расчёта могут быть взяты только приблизительно, в таблице приводятся только порядки величин.
Таблица
Параметры ВАХ диодов для разных материалов при 300 К
Тип материала |
Параметр: |
||||
, эВ |
см-3 |
, мкА |
, мкА |
, В |
|
Ge |
0.66 |
2.4.1013 |
10-1 |
10-1 |
0.3 |
Si |
1.12 |
1.25.1010 |
10-4 |
10-7 |
0.69 |
GaAs |
1.42 |
1.79.106 |
10-5 |
10-14 |
1.08 |
GaP |
2.25 |
9.39.10-2 |
10-14 |
10-31 |
2.0 |
Токи насыщения пропорциональные , уменьшаются в ряду Ge, Si, GaAs, GaP. Токи термогенерации в p-n переходе, пропорциональные , также уменьшаются по абсолютной величине сверху вниз в ряду материалов таблицы, а их относительные величины (по сравнению с токами насыщения) - возрастают.
Данные таблицы иллюстрируются рис.1.3, на котором представлены зависимости и от ширины запрещенной зоны полупроводникового материала. По оси токов использован логарифмический масштаб. Токи насыщения и термогенерации всех диодов, кроме германиевого, очень малы (I нА и менее). Поэтому основным компонентом обратного тока этих диодов является ток утечки.
Основное отличие прямых ветвей ВАХ диодов из различных материалов определяется разным значением тока насыщения. В таблице приведены значения при = 10 мА, вычисленные по формуле (1.1б) для германиевого, кремниевого, арсенид галлиевого диодов. У реальных диодов эта величина может быть несколько большей, в основном из-за падения напряжения на объемном сопротивлении базы.
Рис. 1.3.Зависимость составляющих обратного тока p-n перехода
от ширины запрещённой зоны
Вольтамперные характеристики диодов измеряются с помощью модульного учебного комплекса МУК-ОЭ1. Комплекс для диодов включает в себя ампервольтметр АВ1, генератор напряжений ГН3 и стенд с диодами СЗТТ02. Лабораторная установка позволяет реализовать две схема измерения ВАХ: для прямой ветви (рис. 1.4а) и для обратной (рис.1.4б). При снятии прямой ветви через исследуемый диод ИД генератором тока ГТ задается ток , величина которого контролируется миллиамперметром. Вольтметр, измеряющий прямое напряжение на диоде, подключен непосредственно к нему. При снятии обратной ветви генератором напряжения ГН задается обратное напряжение, а измеряется обратный ток . Измеряющий его миллиамперметр включается последовательно с ИД до вольтметра.
а)
б)
Рис. 1.4. Схемы измерения ВАХ диода: а) – прямой ветви; б) – обратной ветви
Уважаемый посетитель!
Чтобы распечатать файл, скачайте его (в формате Word).
Ссылка на скачивание - внизу страницы.