Вопросы № 1-26 к экзамену по дисциплине "Информационно-измерительные системы" (Основные проблемы метрологического обеспечения ИИС. Общие принципы нормирования МХ, применяемые к ИИС)

Вопросы к билетам по ИИС ч.1

1. Основные проблемы метрологического обеспечения ИИС

2. Два этапа в развитии ИС

3. Назначение и виды ИИС

4. Особенности метрологического контроля и надзора по отношению к ИИС.

5. Задачи, решаемые при помощи ИИС

6. Основные компоненты ИИС и их особенности

7. Фундаментальные и прикладные проблемы МО ИИС

8. Основные работы по МО ИИС

9. Общие цели метрологической экспертизы технической документации на ИИС различных видов.

10. Государственный метрологический контроль и надзор в отношении ИИС

11. Испытания, проводимые для ИИС и ИК ИИС, применяемых в сфере ГМКН.

12. Документы, необходимые для проведения испытаний ИИС

13. Роль дополнительных материалов, представляемых на испытания ИИС

14. Особенности описания и моделирования сложных ИИС

15. Виды поверки, которым подвергают ИИС, ИК и их компоненты.

16. Экспериментальный и расчетно‑экспериментальный способы поверки ИИС

17. Факторы, влияющие на выбор экспериментального метода определения и контроля МХ ИИС

18. Структурная схема поверки ИК

19. Особенности поверки аналого‑цифровых ИК

20. Особенности калибровки компонентов ИК и ИИС

21. Как проявляются общие тенденции в развитии измерительной техники при совершенствовании ИИС

22. Основные тенденции в области испытаний и поверки ИИС

23. Разделы, которые должна содержать программа испытаний ИИС и их краткая характеристика

24. Организационно‑правовые проблемы МО ИИС

25. Актуальные вопросы теоретической поддержки решения новых проблем МО и номирования МХ ИИС

26. Общие принципы нормирования МХ, применяемые к ИИС