Оценка производственного освещения. Работа с люксметром и анализатором отражающих свойств поверхности

Министерство образования и науки РФ

Новосибирский государственный технический университет

Лабораторная работа № 8

Оценка производственного освещения

Группа  С-21

Студенты:   Афутина Н.Г

                    Никитин Д.А

                    Слепуха В.

                    Рак В.А      

Преподаватель:  Илюшов Н.Я.

Новосибирск 2005 г

Цель работы:

> Освоить    методику    измерения           освещенности    в производственном помещении.

> Ознакомиться с нормированием освещенности на рабочих местах.

> Научиться  работать  с  люксметром  и  анализатором отражающих свойств поверхности.

Порядок выполнения работы:

Ознакомиться с работой люксметра.

С помощью этого прибора измеряем освещенность при естественном освещении в заданных точках лаборатории.

Получаем следующие данные:

Лк-люкс

Е_наруж мы рассчитываем по формуле, оно понадобится нам для нахождения КЕО. Формула следующая: Е_наруж=Е_окна/ ,   - это кооэффициент, учитывающий светопропускную способность стекла окна      и      равняется      0,25.

Рассчитываем КЕО (коэффициент естественного освещения) для указанных точек

Таким образом, наши значения КЕО при естественном освещении ниже даже на расстоянии 1,5 h от окна (норма для данного вида работ в нашем административном районе - 4% )

Где h=3,2 м

Измеряем освещенность при совмещенном освещении на уровне рабочих поверхностей под светильниками и между ними, определяем максимальную и минимальную освещенность, получаем:

            Е_{под светильниками}=

            Е_{между светильниками}=

Измерим освещенность при совмещенном освещении в определенных точках лаборатории, получим:

            Е_гор=                                                   точки на горизонтальной и вертикальной           

            Е_верт=                                                поверхностях лабораторного стенда.

            Е_доска=                                                в центре грифельной доски

С помощью АОСП определим освещённость от падающего и отраженного светового потоков, для диффузно - отражающих образцов, результаты занесём в таблицу: