Структурная схема для расчета надежности исследуемого устройства изображена на рисунке 3.1
Рисунок 3.1 – Структурная схема для расчета надежности исследуемого устройства
Таблица 3.1 – Показатели интенсивностей отказов исследуемого устройства
Наименование элемента |
Интенсивность отказов, ´10-6 |
Количество элементов |
Суммарная интенсивность отказов, ´10-6 |
резисторы |
0,0055 |
6 |
0,033 |
конденсаторы |
0,0031 |
9 |
0,028 |
индуктивности |
0,1000 |
2 |
0,200 |
полевой транзистор |
0,1540 |
1 |
0,154 |
Биполярный |
0,2000 |
1 |
0,200 |
Итого |
19 |
0,615 |
Таблица 3.2 – Показатели надежности исследуемого устройства
Интенсивность отказов, ´10-6 (при К=2,5) |
Время безотказной работы (наработка на отказ) |
||
экспоненциальная модель, ч. |
модель Вейбулла-Гнеденко, ч. |
||
a=0,0088 |
b=0,03 |
||
1,537 |
649 351 |
7 197 415 |
На рисунке - 3.2 изображена зависимость вероятности появления отказа для различных моделей надежности исследуемого устройства
Рисунок 3.2 – Графическая зависимость вероятности появления отказа для различных моделей надежности исследуемого устройства
Построив экпоненциальную модель и модель Вейбулла-Гнеденко на графике, с помощью офисного пакета Exel, мы получили наглядное представление зависимости появления отказа. Из расчетов видно, что если устройство будет подвижным (К=2,5), то по экспоненциальной модели устройство проработает 649351 час, а по модели Вейбулла-Гнеденко 7197415 час.
В данной главе проводится оценка стоимости данного устройства и рассмотрение вариантов его производства.
Таблица 4.1 – Стоимость компонентов исследуемого устройства
Уважаемый посетитель!
Чтобы распечатать файл, скачайте его (в формате Word).
Ссылка на скачивание - внизу страницы.