,
где Ci, Cj, Ck- содержания элементов i, j и k в анализируемом образце;
Cjst, Ckst - то же в гипотетическом стандартном образце;
Ii, Ij - относительные интенсивности аналитических линий контролируемых элементов по отношению к реперному образцу;
I = J/Jp,
где J - абсолютная скорость счета исследуемого образца;
Jp - абсолютная скорость счета реперного образца;
Kij, Bii, wijk - теоретически рассчитанные для гипотетического образца коэффициенты влияния (поправочные коэффициенты), учитывающие поглощение первичного и флуоресцентного излучения образцом, дополнительное возбуждение и поглощение избирательно возбуждающего излучения матрицей образца.
a0, aj, aij - эмпирические коэффициенты, учитывающие аппаратурные факторы (фон, коэффициент чувствительности, наложение спектральных линий) и эффекты второго порядка; эти коэффициенты определяют в ходе градуировки по образцам известного состава методом наименьших квадратов.
При анализе расчет содержаний выполняется совместным решением системы уравнений для всех контролируемых элементов методом последовательных приближений.
Предложенное уравнение (и другие уравнения этого способа) наиболее полно учитывает межэлементные влияния и аппаратурные факторы и позволяет использовать упомянутые выше способы анализа, в т.ч. и способ стандарта-фона, который реализуется , если одна из Ij измерена на линии когерентного (или некогерентного) рассеяния анодной линии (или тормозного спектра).
Уже много лет считается перспективным способ фундаментальных параметров, в котором решается обратная задача: расчет содержаний по наиболее общей формуле для интенсивностей рентгеновской флуоресценции:
Ii =F[m(С),w(С),y(С),p(С),v(С)].
Интенсивность рентгеновской флуоресценции при постоянных условиях возбуждения представлена как функционал от влияющих факторов: поглощение первичного и флуоресцентного излучения пробой m(С), избирательное возбуждение w(С), влияние полихроматичности первичного излучения y(С), эффекты возбуждения рассеянным излучением p(С), эффекты более высоких порядков v(С).
Способ для реализации требует мощных быстродействующих ПЭВМ, что в последнее время реализуется и имеются практические примеры реализации этого способа в методическом обеспечении рентгеноспектральных приборов.
В рамках какого-либо способа анализа реализуется методика анализа или как принято сейчас говорить Методика выполнения измерений (МВИ). Выбор способа анализа зависит от исторически сложившийся у разработчика МВИ практики (практически любой способ анализа может решить поставленную аналитическую задачу), от объекта анализа, от типа используемой аппаратуры и от требований к точности анализа; имеют значение также требования к экспрессности и производительности.
Объект анализа (и требования к точности анализа) практически всегда однозначно определяет способ подготовки проб к анализу (РСА). Для сталей и сплавов подготавливается ровная поверхность (токарная, фрезерная или шлифованная), для порошков насыпают кюветы, сплавляют с плавнем или прессуют таблетки (со связующим или без). Жидкие пробы анализируют в специальных кюветах или для определения тяжелых металлов (и других элементов) выпаривают, пропускают через сорбционные фильтры, проводят соосаждение с реагентом, пропитывают (накапывают на) пористый материал, фильтровальную бумагу или на гладкую поверхность для специальных методов РСА (полное внешнее отражение).
Собственно содержание МВИ определялся старым ГОСТ 8.010-90, который и установил текст документа и порядок его утверждения. Новый ГОСТ 96 года сохранил существующий порядок.
Уважаемый посетитель!
Чтобы распечатать файл, скачайте его (в формате Word).
Ссылка на скачивание - внизу страницы.