МИНИСТЕРСТВО ОБРАЗОВАНИЯ
РЕСПУБЛИКИ БЕЛАРУСЬ
ГОМЕЛЬСКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ
ТЕХНИЧЕСКИЙ УНИВЕРСИТЕТ
имени П.О.Cухого.
Кафедра”Физика”
Лабораторная работа №4
Определение периодов двухмерной структуры.
Выполнил студент гр.ЛО-21:
Ткаченко И. В.
Принял преподаватель:
Петрошенко П. Д.
Гомель 2007
ПРАКТИЧЕСКАЯ ЧАСТЬ
Ход работы
а) Определение длины световой волны с помощью дифракционной решетки
№ |
m |
a, мм |
X1l, мм |
X1р, мм |
X2l, мм |
X2p, мм |
Хi, мм |
λi нм |
λсp нм |
Δλ нм |
1 |
1 |
500 |
30 |
30 |
- |
- |
30 |
0,00075 |
0,00075 |
0 |
2 |
2 |
500 |
- |
- |
60 |
60 |
60 |
0,00075 |
0,00075 |
0 |
3 |
1 |
500 |
40 |
40 |
- |
- |
40 |
0,00067 |
0,00067 |
0 |
4 |
2 |
500 |
- |
- |
80 |
80 |
80 |
0,00067 |
0.00067 |
0 |
(строки 3,4).
где d=0,01 мм- период решётки
6. Вычислим . Результат в нанометрах занесём в таблицу.
б) Определение периодов двухмерной структуры
1. Заменим дифракционную решетку на металлическую сетку (С). расстояние а должно лежать в пределах 0,6-1 м.
2. Измерим с помощью миллиметровой линейки расстояние между сеткой и экраном (а) и расстояние X1, X2, Y1, Y2. Результаты измерений занесём в таблицу 2.
3. Значение d1 и d2 могут быть определены из условий максимума:
|
Вывод: Изучили дифракцию света на одномерной и двумерной структурах.
Уважаемый посетитель!
Чтобы распечатать файл, скачайте его (в формате Word).
Ссылка на скачивание - внизу страницы.